[发明专利]基于X射线成像系统探测器特性的调制传递函数测量方法

权利要求书

1.一种基于X射线成像系统探测器特性的调制传递函数测量方法，包括下列步骤：

①设置数字放射成像系统的曝光参数，放置刀口测试仪器紧贴探测器，并使刀口与探测器采样方向有一倾斜角度，连续采集多幅图像；

②对多幅刀口图像叠加平均，降低系统噪声，而后对平均后的刀口图像进行刀口边界检测，并且利用直线拟合获得刀口边界直线；

③对刀口边界直线图进行Hough变换，获得刀口倾斜角度α，而后依据公式N＝round(1/tanα)得到该倾角对应的插值数N，构建过采样ESF曲线，round符号代表取整函数；

④采用C样条曲线作为回归样条曲线f对ESF曲线进行分段最小二乘拟合，同时满足约束条件，即拟合时保证ESF曲线左半部分为单调非减凹函数，右半部分为单调非减凸函数；

⑤对经过最小二乘拟合的ESF曲线进行差分运算得到线扩散函数LSF(x)；

⑥对线扩散函数LSF(x)进行傅里叶变换再取模，得到调制传递函数MTF′(f)；

⑦对MTF′(f)采用零频率位置MTF值进行归一化，得到归一化的调制传递函数MTF(f)。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，步骤④中，采用3阶C样条曲线作为的回归样条曲线f，对ESF曲线进行分段拟合，所满足的约束条件为：f′(x)≥0，f″(x)≥0,x∈[xmin,xmid]f″(x)≥0,x∈[xmid,xmax],]]>这里f′(x)和f′′(x)分别为回归样条曲线f的一阶导数和二阶导数，x_min，x_mid和x_max分别是待拟合ESF曲线的左端点，中心边界和右端点，

λ为平滑因子，λ≥0，用于控制曲线的平滑度与误差之间的平衡。