[发明专利]测量高精度轴类键槽深度误差的方法及其装置

权利要求书

1.测量高精度轴类键槽深度误差的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、将待测轴（7）固定在平台上，并使其外圆面朝上，将升降座（1）放置在该平台上，然后取一个厚度与该轴上待测键槽的目标深度相等的块规（6），并将其放置在升降座（1）中升降轴（2）的上平面；分别取千分表和高度尺，并把千分表装到高度尺上，推动高度尺用千分表检查，调整升降轴（2）的高度，使其上放置的块规（6）的上表面与待测轴（7）的外圆最高点等高，锁紧紧固螺钉（3），此时升降轴（2）上表面所处的水平面即为待测轴（7）上待测键槽的槽底平面；

步骤二、取下块规（6），旋转待测轴（7），使其中待测键槽的开槽方向朝上且槽底面处于水平状态，在升降轴（2）的上端面上放置定位框，并在定位框的内部区域放置一个与定位框各内边相切的钢球（5），钢球（5）的直径小于待测键槽的宽度，并且不小于待测键槽深度；

步骤三、分别取千分表和高度尺，并把千分表装到高度尺上，推动高度尺用千分表找钢球（5）的最高点，待找到钢球（5）的最高点后将千分表复零位；

步骤四、从升降轴（2）的上端面上取下钢球（5）并将其放入待测键槽中，然后推动高度尺用千分表找该钢球（5）此时的最高点，根据表针的摆动数值判断待测键槽的深度误差。

2.根据权利要求1所述的测量高精度轴类键槽深度误差的装置，设有一个用于放置待测轴（7）的平台和一个升降座（1），升降座（1）中心位置的通孔中设有一个用于定位待测键槽槽底面的升降轴（2），升降座（1）的外周面上设有紧固升降轴（2）的紧固螺钉（3），其特征在于：升降轴（2）的上端面为用于放置块规（6）和定位框的检测面，块规（6）的厚度与待测键槽目标深度相等，定位框内设有一个与其各内边均相切的钢球（5），钢球（5）的直径小于待测键槽的宽度，并且不小于待测键槽深度。

3.根据权利要求2所述的测量高精度轴类键槽深度误差的装置，其特征在于：所述的定位框是由首尾相抵的第一矩形挡块（401）、第二矩形挡块（402）和第三矩形挡块（403）组成的三角形结构。