[发明专利]一种图像坏点校正方法及图像传感器有效

专利信息
申请号: 201310467851.2 申请日: 2013-10-10
公开(公告)号: CN103475828A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 庄永军;吴乘跃 申请(专利权)人: 旗瀚科技有限公司
主分类号: H04N5/357 分类号: H04N5/357
代理公司: 深圳力拓知识产权代理有限公司 44313 代理人: 龚健
地址: 518000 广东省深圳市福田区深南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 图像 校正 方法 图像传感器
【说明书】:

技术领域

发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种图像的坏点校正方法及图像传感器。

背景技术

目前安防行业已经进入了高清时代,采用百万分辨率的CMOS传感器已经成为趋势。由于图像传感器制造工艺所限,CMOS传感器在长时间、高温环境下面的图像坏点会越来越多,所谓坏点是指不随感光变化,始终呈现一种颜色(例如,白色、黑色或彩色)的像素点,从而破坏了高清图像的清晰图和完整性,。坏点的存在是图像质量下降的原因之一,同时由于坏点的增多,低噪环境下图像会更加差,影响了高清产品的使用。而传统的坏点矫正的方法采用上电初始化一次的方式,确定本次上电时的坏点位置,从而固定的解决上电时判断出来的坏点,如若不重启上电,坏点的矫正将局限于初始化的几个坏点,因此不适合相机在长时间使用过程中产生的坏点的矫正。

发明内容

针对上述问题,本发明提供一种坏点校正速度快、精度高、能够校正传感器使用过程中的坏点的图像校正坏点方法及图像传感器。

为达到上述目的,本发明图像坏点校正方法,该方法包括:

以待检测像素点为中心像素点建立5×5Bayer色彩矩阵;

根据所述中心像素点隔行隔列的相同颜色的周围像素点的色值变化,对所述5×5Bayer色彩矩阵的中心像素点的所述周围像素点进行坏点判断;

对判定为坏点的像素点进行校正;

以所述中心像素点的所述周围像素点为参考点,判断所述中心像素点的色值与所述周围像素点的差值是否均大于第一阈值,如果是,则该中心像素点为坏点,如果否,则该中心像素点为正常点;

对判定为坏点的中心像素点进行图像校正。

进一步地,所述周围像素点是否为坏点的判断方法为:将所述周围像素点按行或列的顺序依次两两相减,取每两个隔行或者隔列的像素点差值的绝对值,并将所述绝对值依次排序;

若所述的绝对值中有两个值大于最大阈值,且所述的大于所述第二阈值的两个绝对值是连续的,则计算得到该两个绝对值的中间像素点为坏点,取其他两个像素点色值的平均值为该像素点的色值;

若所述的绝对值中有两个以上值大于最大阈值,则所有的所述周围像素点均为正常值;

若所述的绝对值均小于最小阈值,则所有的所述周围像素点均为正常值。

进一步地,所述中心像素点周围的像素点为与所述中心像素点隔行隔列的8个相同颜色的像素点。

进一步地,对所述的中心坏点像素点的校正方法为取所述中心坏点像素点周围9个相同颜色的像素点的色值的平均值为该中心像素点的色值。

为达到上述目的,本发明图像传感器,包括图像坏点校正单元,其中所述图像坏点校正单元包括:

临域创建单元,用于以待检测像素点为中心像素点建立5×5Bayer色彩矩阵;

判定预处理单元,用于根据所述中心像素点隔行隔列的相同颜色的周围像素点的色值变化,对所述5×5Bayer色彩矩阵的中心像素点的所述周围像素点进行坏点判断;

坏点判定单元,用于以所述中心像素点的所述周围像素点为参考点,判断所述中心像素点的色值与所述周围像素点的差值是否均大于第一阈值,如果是,则该中心像素点为坏点,如果否,则该中心像素点为正常点;

坏点校正单元,用于对判定为坏点的中心像素点进行图像校正。

进一步地,所述判定预处理单元,包括:

计算单元,用于将所述周围像素点按行或列的顺序依次两两相减,取每两个隔行或者隔列的像素点差值的绝对值,并将所述绝对值依次排序;

比较单元,用于比较所述绝对值与最大阈值和最小阈值的大小,以判断所述的周围像素点是否为坏点;

若所述的绝对值中有两个值大于最大阈值,且所述的大于所述第二阈值的两个绝对值是连续的,则计算得到该两个绝对值的中间像素点为坏点,取其他两个像素点色值的平均值为该像素点的色值;

若所述的绝对值中有两个以上值大于最大阈值,则所有的所述周围像素点均为正常值;

若所述的绝对值均小于最小阈值,则所有的所述周围像素点均为正常值。

特别地,所述传感器包括四行缓存单元,每行缓存单元包括四个寄存器。

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