[发明专利]具有多个测试站的转盘式测试装置与系统在审
申请号: | 201310469891.0 | 申请日: | 2013-10-10 |
公开(公告)号: | CN104569633A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 詹勋亮;施松柏 | 申请(专利权)人: | 京元电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 测试 转盘 装置 系统 | ||
1.一种具有多个测试站的转盘式测试装置,其特征在于包含:
输送转盘,用以传送电子元件;以及
多个测试转盘,用以对该输送转盘传送来的电子元件进行多个不同的测试,其中,每一该测试转盘周围设置有多个不同的测试模块,从而形成多个不同的测试工作站,以对电子元件连续进行不同的测试项目。
2.根据权利要求1所述的具有多个测试站的转盘式测试装置,其特征在于其中该输送转盘上设置有多个元件承载单元,用以承载电子元件而带动电子元件随该输送轮盘转动进行输送。
3.根据权利要求1所述的具有多个测试站的转盘式测试装置,其特征在于其中每一该测试转盘皆包含n+1个测试座设置于其上,用以承载电子元件于该测试转盘上进行测试,其中,n为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。
4.根据权利要求3所述的具有多个测试站的转盘式测试装置,其特征在于其中每一该测试转盘能够自由地来回转动,而每一该测试转盘周围设置的上述测试模块皆固定不动,不会随该测试转盘转动。
5.根据权利要求4所述的具有多个测试站的转盘式测试装置,其特征在于其中该测试转盘周围设置的每一测试模块皆对应该测试转盘上的一个测试座,而该测试转盘上未对应上述测试模块的该测试座,则位于最接近该测试转盘的该输送转盘的该元件承载单元下方,或是与该输送转盘相邻。
6.根据权利要求2所述的具有多个测试站的转盘式测试装置,其特征在于其中上述元件承载单元为真空吸嘴。
7.根据权利要求2所述的具有多个测试站的转盘式测试装置,其特征在于其中上述元件承载单元为元件容置槽或元件容置座。
8.根据权利要求7所述的具有多个测试站的转盘式测试装置,其特征在于其中更包含多个拾取装置,其中,每一该拾取装置对应一个测试转盘,用以进行其所对应的测试转盘与该输送转盘之间的电子元件取放。
9.根据权利要求3所述的具有多个测试站的转盘式测试装置,其特征在于其中每一该测试座下方皆具有一排线,该测试座借由该排线而与自动测试设备ATE连接,该排线会随着该测试转盘转动,而使每一该测试座下方皆与同一排线连接。
10.根据权利要求9所述的具有多个测试站的转盘式测试装置,其特征在于其中当每一该测试转盘上放置的第mn+1电子元件在该测试转盘上的最后一个测试模块完成测试后,该测试转盘会回转以避免上述测试座下方的排线纠缠而扯断,其中,m为0或整数,n为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。
11.一种具有多个测试站的转盘式测试系统,其特征在于包含:
输送转盘,用以传送电子元件;
多个测试转盘,用以对该输送转盘传送来的电子元件进行多个不同的测试,其中,每一该测试转盘周围设置有多个不同的测试模块,从而形成多个不同的测试工作站,以对电子元件连续进行不同的测试项目;
自动测试设备ATE与上述测试转盘电性连接,用以提供测试信号与参数并收集与处理测试结果;
进料装置,用以待测的电子元件输送进入该测试转盘中;以及
分料装置,用以依照每一个电子元件的测试结果而将各个电子元件进行分类。
12.根据权利要求11所述的具有多个测试站的转盘式测试系统,其特征在于其中该输送转盘上设置有多个元件承载单元,用以承载电子元件而带动电子元件随该输送轮盘转动进行输送。
13.根据权利要求11所述的具有多个测试站的转盘式测试系统,其特征在于其中每一该测试转盘皆包含n+1个测试座设置于其上,用以承载电子元件于该测试转盘上进行测试,其中,n为每一该测试转盘周围设置的该测试模块的数量。
14.根据权利要求13所述的具有多个测试站的转盘式测试系统,其特征在于其中每一该测试转盘能够自由地来回转动,而每一该测试转盘周围设置的上述测试模块皆固定不动,不会随该测试转盘转动。
15.根据权利要求14所述的具有多个测试站的转盘式测试系统,其特征在于其中该测试转盘周围设置的每一个测试模块皆对应该测试转盘上的一个测试座,而该测试转盘上未对应上述测试模块的该试座,则位于最接近该测试转盘的该输送转盘的该元件承载单元下方,或是与该输送转盘相邻。
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