[发明专利]基于砷阀开关的II类超晶格结构及制备方法有效
申请号: | 201310470180.5 | 申请日: | 2013-10-10 |
公开(公告)号: | CN103500765A | 公开(公告)日: | 2014-01-08 |
发明(设计)人: | 陈建新;王芳芳;徐志成;周易;徐庆庆 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304;H01L31/18 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 开关 ii 晶格 结构 制备 方法 | ||
1.一种基于砷阀开关的II类超晶格结构,其结构自下而上依次为GaAsxSb1-x层(1)、InAsy1Sb1-y1层(2)、InAs层(3)和InAsy2Sb1-y2层(4),其特征在于:
所述的GaAsxSb1-x层(1)的厚度为1.2nm-3.6nm,组分x为0.01-0.03;
所述的InAsy1Sb1-y1层(2)的厚度为0.15nm-0.25nm,组分y1为0.01-0.3;
所述的InAs层(3)的厚度为2.4nm-4.8nm;
所述的InAsy2Sb1-y2层(4)的厚度为0.15nm-0.25nm,组分y2为0.5-0.99。
2.一种如权利要求1所述的基于砷阀开关的II类超晶格结构的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
1)将GaSb衬底升温至560℃去除其表面的氧化层;
2)将GaSb衬底降温至400℃至II类超晶格生长温度;
3)将As阀和Sb阀开至II类超晶格生长所用阀位;
4)采用分子束外延方法在GaSb衬底上依次外延GaAsxSb1-x层(1)、InAsy1Sb1-y1层(2)、InAs层(3)和InAsy2Sb1-y2层(4)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的