[发明专利]基于砷阀开关的II类超晶格结构及制备方法有效

专利信息
申请号: 201310470180.5 申请日: 2013-10-10
公开(公告)号: CN103500765A 公开(公告)日: 2014-01-08
发明(设计)人: 陈建新;王芳芳;徐志成;周易;徐庆庆 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: H01L31/0304 分类号: H01L31/0304;H01L31/18
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 开关 ii 晶格 结构 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于砷阀开关的II类超晶格结构,其结构自下而上依次为GaAsxSb1-x层(1)、InAsy1Sb1-y1层(2)、InAs层(3)和InAsy2Sb1-y2层(4),其特征在于:

所述的GaAsxSb1-x层(1)的厚度为1.2nm-3.6nm,组分x为0.01-0.03;

所述的InAsy1Sb1-y1层(2)的厚度为0.15nm-0.25nm,组分y1为0.01-0.3;

所述的InAs层(3)的厚度为2.4nm-4.8nm;

所述的InAsy2Sb1-y2层(4)的厚度为0.15nm-0.25nm,组分y2为0.5-0.99。

2.一种如权利要求1所述的基于砷阀开关的II类超晶格结构的制备方法,其特征在于包括以下步骤:

1)将GaSb衬底升温至560℃去除其表面的氧化层;

2)将GaSb衬底降温至400℃至II类超晶格生长温度;

3)将As阀和Sb阀开至II类超晶格生长所用阀位;

4)采用分子束外延方法在GaSb衬底上依次外延GaAsxSb1-x层(1)、InAsy1Sb1-y1层(2)、InAs层(3)和InAsy2Sb1-y2层(4)。

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