[发明专利]用于研究导电高分子复合材料压阻特性的四线测量法

权利要求书

1.一种用于研究导电高分子复合材料压阻特性的四线测量法，其特征在于，这种测量方法是基于一种包括两个电流端和两个电压端的四线式压阻试样，该试样由底层组件、中间层组件和顶层组件三部分构成；测量四线式压阻试样压阻特性时，将施力压块放置在顶层组件之上，将四线式压阻试样的两个电流端接到恒流源、将四线式压阻试样的两个电压端接入具有高输入阻抗的电压测量装置。

2.如权利要求1所述的四线式压阻试样的研制方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

(1)、底层组件是通过在一块绝缘刚性板上覆合正方形铜箔电极制备而成，该铜箔电极即作为四线式压阻试样的第一个电流端；中间层组件是通过在一块中心部位具有矩形通透槽的绝缘刚性板中设置一根金属引线制备而成，矩形通透槽的宽度与底层组件的正方形铜箔电极的边长相同，矩形通透槽的长度比底层组件的正方形铜箔电极的边长略长，所述金属引线在靠近矩形通透槽的一侧伸出一部分，伸出部分的长度与底层组件的正方形铜箔电极的边长之和等于中间层组件的矩形通透槽的长度，该金属引线即作为四线式压阻试样的第一个电压端；顶层组件是通过在一块绝缘刚性板上覆合两部分互相绝缘的电极制备而成，绝缘刚性板的底面为矩形，其长和宽与中间层组件的矩形通透槽相同，两部分互相绝缘的电极分别作为四线式压阻试样的第二个电流端和第二个电压端；顶层组件的电流端为正方形铜箔电极，其边长与底层组件的正方形铜箔电极的边长相同；顶层组件的电压端为靠近绝缘刚性板边缘位置的金属引线，该电压端略超出顶层组件底面；

(2)、将底层组件和中间层组件叠放在一起，且保证底层组件的正方形铜箔电极的一侧与中间层组件的矩形通透槽的一个边缘重合；将一块有机玻璃切割成长方体，该长方体型有机玻璃的底面为正方形，边长与底层组件的正方形铜箔电极的边长相同，高度与中间层组件的矩形通透槽的高度相同，将长方体型有机玻璃放入中间层组件的矩形通透槽中，且保证所述长方体型有机玻璃的底面与底层组件的正方形铜箔电极完全重合；将聚二甲基硅氧烷、交联剂和有机溶剂按一定比例混合，在机械搅拌的作用下形成聚二甲基硅氧烷胶状物，将其灌入长方体型有机玻璃和中间层组件的矩形通透槽之间的缝隙处，待聚二甲基硅氧烷硫化成型后，抽离长方体型有机玻璃；在硫化后的二甲基硅氧烷薄层的顶端位置开豁口，其尺寸与顶层组件上的电压端超出顶层组件底面的部分的尺寸相同；

(3)、将导电粉末和液态高分子材料按一定比例混合，并将有机溶剂加入到混合体中，对导电粉末/高分子材料/有机溶剂混合溶液进行大功率机械搅拌，同时辅以超声振荡，使导电粉末在混合溶液中分散，在交联剂的作用下，形成导电高分子复合材料胶状物；将所述的导电高分子复合材料胶状物灌入中间层组件的矩形通透挖槽里；将顶层组件叠放在中间层组件之上，使顶层组件上的电流端与导电高分子复合材料胶状物相接触，并使顶层组件上的电压端超出顶层组件的底面的部分嵌入所述的聚二甲基硅氧烷薄层的顶层位置的豁口，用夹持器保持顶层组件始终保持水平，待导电高分子复合材料胶状物硫化成型后，撤去夹持器，即完成四线式压阻试样的制备。