[发明专利]X射线分析装置

权利要求书

1.一种X射线分析装置，当对样品照射了X射线时，通过X射线检测器检测从该样品发出的X射线，并且具备多个测定手段和种类不同的多个可更换的部件，其特征在于，具有：

标志，设置于所述多个可更换的部件中；

摄影机，将所述多个可更换的部件和所述标志进行摄影；以及

控制单元，对所述摄影机所摄影的信息进行解析，实现所述多个测定手段，

所述标志包含有表示所述可更换的部件的种类名称的信息、表示所述可更换的部件应被安装的位置的信息、以及表示所述可更换的部件应被安装的方向的信息，

所述控制单元基于由所述摄影机所摄影的所述多个可更换的部件的种类名称的信息、位置的信息以及方向的信息来判定所述多个可更换的部件的种类、位置以及方向与测定手段对应得正确与否。

2.根据权利要求1所述的X射线分析装置，其特征在于，

所述标志为以下的任一个，即为：

（1）附加于所述可更换的部件中已附加的标签中的符号、

（2）所述可更换的部件本身的形状、

（3）附加于所述可更换的部件中的颜色、

（4）附加于所述可更换的部件中的标签的颜色、

（5）直接记载于所述可更换的部件中的符号、或者

（6）通过雕刻直接记载于所述可更换的部件中的符号。

3.根据权利要求1或2中记载的X射线分析装置，其特征在于，

所述可更换的部件是X射线光学部件和／或配件。

4.根据权利要求1或2所述的X射线分析装置，其特征在于，

具有：

图案，能识别相互正交的2方向，

并且具有如下特征：

所述控制单元基于所述图案通过计算特定所述可更换的部件的方向。

5.根据权利要求4所述的X射线分析装置，其特征在于，

所述能识别相互正交的2方向的图案是长方形的框。

6.根据权利要求1或2所述的X射线分析装置，其特征在于，

所述控制单元计算从所述摄影机的摄影图像内的基准点到所述可更换的部件的特定点的距离。

7.根据权利要求6所述的X射线分析装置，其特征在于，

在所述可更换的部件中附加长方形的框，并且该可更换的部件的特定点是所述长方形的框的对角线的交点。

8.根据权利要求6所述的X射线分析装置，其特征在于，

在所述可更换的部件中附加长方形的框，并且该可更换的部件的特定点是所述长方形的框的角部。

9.根据权利要求1或2所述的X射线分析装置，其特征在于，

所述可更换的部件具有：拥有直线性的长度的标志或拥有平面性的宽度的标志，

所述控制单元计算拥有所述直线性的长度的标志的长度的变化或拥有所述平面性的宽度的标志的面积的变化，并基于该长度的变化或面积的变化，通过计算求取所述可更换的部件的相对所述摄影机的前后方向的位置的变化。

10.根据权利要求1或2所述的X射线分析装置，其特征在于，

具有：盖罩，包围对所述样品照射X射线的单元、检测从所述样品发出的X射线的单元、所述可更换的部件、所述摄影机，

该盖罩由不拥有视觉确认用的窗的壳体和不拥有视觉确认用的窗的门来形成。