[发明专利]一种组合框架结构蜂窝芯平面度的测量方法

说明书

技术领域

本发明属于测量技术领域，具体涉及一种组合框架结构蜂窝芯平面度的测量方法。 

背景技术

组合框架结构蜂窝芯的典型结构如图1所示，需要测量单独一块蜂窝芯的平面度，同时还要对组合后的蜂窝芯平面度进行测量；而目前对蜂窝芯尺寸形位类检测要求在现有的检测规范中仅涉及厚度、芯格尺寸、芯格节距的要求和检测方法，对于蜂窝芯平面度的检测要求及方法均无相应方法。同时由于蜂窝芯箔片的厚度通常仅有0.1mm以下，且有两侧框架结构高于蜂窝芯平面，通常的平面度测量方法无法实现。 

发明内容

本发明的目的在于提供一种适用于组合框架结构蜂窝芯平面度的检测方法，解决蜂窝芯平面度测量方法缺失的问题，完善组合框架蜂窝芯结构的参数评价指标，满足性能评价需求。 

具体技术方案是： 

对于组合框架蜂窝芯结构，利用高精度的刀口尺和成套的三等或以上精度等级的量块进行检测。适用范围由刀口尺尺寸决定，一般在400mm×400mm范围内。 

首先选择组合框架中位于中部的蜂窝芯框架为基准蜂窝芯平面，测得基准蜂窝芯的平面度。 

具体测量顺序按照均匀分布的原则，确定蜂窝芯平面上的测量点位置，之后在基准蜂窝芯被测截面两端放置尺寸相同的量块(如5mm，确保量块工作面的厚度大于两侧框架的高度)，将刀口尺放在量块上，确保稳定后用其他尺寸的量块在截面测量点处向刀口尺与蜂窝芯之间的间隙试塞，则量块刚刚塞入时的尺寸与两端量块尺寸之差，即为测量点对两端点连线的偏差，测量完整蜂窝芯平面各个位置后，所有偏差值中最大值与最小值之差即为被检蜂窝芯的平面度数值； 

各个组合框架内的蜂窝芯平面度均可由此方法测得，得到局部蜂窝芯的平面度。 

整体平面度的检测方法测量过程中，可以将各个组合框架内蜂窝芯平面的中点作为测量点，进行整体平面度的测量，所有偏差中的最大值与最小值之差即为整体组合框架蜂窝芯的基础平面度数值，之后再与最大值与最小值中点所在平面的自身平面度数值相加，即得到组合框架蜂窝芯的整体平面度数值。 

本发明的有益效果是克服了蜂窝芯平面度由于箔片厚度过薄无法使用水平仪或反射镜进行测量的问题，通过使用刀口尺和量块进行组合测量的方法，得到了被测数值，填补了蜂窝芯平面度检测方法的空白。 

附图说明

图1为组合框架结构蜂窝芯的典型结构示意图； 

图2为蜂窝芯平面度检测方法示意图； 

其中：1为刀口尺；2为基准量块一；3为试塞量块；4为基准测 量块二；5为组合框架；6为蜂窝芯； 

图2中两端的量块为同一尺寸，上方放置刀口尺，中间的量块为尝试塞入的量块，该量块与两端量块尺寸的差值为该点的偏差值；测量完蜂窝芯平面上各个位置后，所有偏差值中最大值与最小值之差即为被检蜂窝芯的平面度数值。 

图3为组合框架蜂窝芯整体平面度检测方法示意图 

其中：1为刀口尺；2为基准量块一；3为试塞量块；4为基准测量块二；5为组合框架；6为蜂窝芯； 

图3中两端的量块2，4为同一尺寸，分别放置在两侧蜂窝芯的靠近边缘位置，上方放置刀口尺1，中间的量块3为尝试塞入的量块，塞入位置在该蜂窝芯的中点位置，该量块与两端量块尺寸的差值为该蜂窝芯中点的偏差值；完成所有蜂窝芯中点的测量后即可计算整体组合框架蜂窝芯的平面度数值。 

图4为第一条对角线数值示意图 

图5为第二条对角线数值示意图 

图6为蜂窝芯平面度计算示意图 

具体实施方式

本发明提供的制备具有光催化功能的微弧氧化膜层的方法具体通过如下步骤实现： 

第一步，进行平面度测量，选用尺寸一样的两个量块作为基准量块，之后选用不同尺寸的量块进行试塞，试塞的量块刚好能够通过时，记录该试塞量块的数值。见图4图5。 

第二步，数据处理，计算得到小块蜂窝芯的平面度。 

计算首先以其中一条对角线的数值为基准，将另外一条对角线的数值进行换算。把每条对角线两端的数值进行等高化，两条对角线分别进行等高后，在所有测得数据中找出最大值减去最小值，即得到蜂窝芯平面度，见附图6。 

f=d_max-d_min，结果为50-(-25)=75，单位um 

第三步，测量大块蜂窝芯的中点位置，记录数据。数据处理计算得到整体组合框架结构的蜂窝芯平面度。方法与第一步、第二步相同。