[发明专利]光传感器增益检测装置及光传感器增益检测方法

权利要求书

1.一种光传感器增益检测装置，具备：

检测器，包括光传感器，该光传感器输出信号，该信号起因于响应放射线的到达而发生的第1事件；

余脉冲/暗脉冲检测器设备，检测起因于从上述第1事件触发且在上述第1事件之后在上述光传感器内发生的第2事件的余脉冲或者暗脉冲，响应检测出的该余脉冲或者上述暗脉冲而输出指示信号；

积分器，对由上述光传感器输出的上述信号进行积分并输出；

直方图设备，与上述积分器以及上述余脉冲/暗脉冲检测器设备连接，根据积分后的上述信号以及上述指示信号，生成直方图；

增益决定设备，根据所生成的上述直方图来决定上述光传感器的增益。

2.根据权利要求1所述的光传感器增益检测装置，其特征在于，

上述光传感器增益检测装置还具备判断单元，上述判断单元根据所决定的上述增益和预先存储的上述光传感器的基准增益，判断上述光传感器是否适当地发挥作用、上述光传感器是否能够恢复、上述光传感器是否能够修复中的至少某一个。

3.根据权利要求1或2所述的光传感器增益检测装置，其特征在于，

上述光传感器增益检测装置还具备存储单元，上述存储单元存储用于确定与所决定的上述增益对应的上述光传感器的识别信息；

上述光传感器增益检测装置还具备确定处理单元，上述确定处理单元根据上述识别信息，从多个光传感器中确定与所决定的上述增益对应的上述光传感器。

4.根据权利要求3所述的光传感器增益检测装置，其特征在于，

上述光传感器增益检测装置还具备校正单元，上述校正单元在判断为上述光传感器能够恢复的情况下，根据所决定的上述增益，执行与所确定的上述光传感器相关的校正处理。

5.根据权利要求3或4所述的光传感器增益检测装置，其特征在于，

上述光传感器增益检测装置还具备输出单元，上述输出单元在判断为上述光传感器不能修复的情况下，警告替换所确定的上述光传感器。

6.根据权利要求1－5中的任一项所述的光传感器增益检测装置，其特征在于，

上述余脉冲/暗脉冲检测器设备还具有积分设备，该积分设备通过滤波排除上述余脉冲或上述暗脉冲以外的信号。

7.根据权利要求6所述的光传感器增益检测装置，其特征在于，

上述余脉冲/暗脉冲检测器设备在滤波后的上述信号大于100keV的情况下，不检测上述余脉冲或者上述暗脉冲。

8.根据权利要求1－7中的任一项所述的光传感器增益检测装置，其特征在于，

上述光传感器是光电倍增管（PMT）或者硅光电倍增管（SiPM）。

9.根据权利要求1－8中的任一项所述的光传感器增益检测装置，其特征在于，

上述第1事件是电子－阳电子湮灭事件。

10.一种光传感器增益检测方法，具备：

通过光传感器输出信号，该信号起因于响应放射线的到达而发生的第1事件；

通过余脉冲/暗脉冲检测器设备，检测起因于从上述第1事件触发且在上述第1事件之后在上述光传感器内发生的第2事件的余脉冲或者暗脉冲，响应检测出的该余脉冲或者上述暗脉冲而输出指示信号；

对由上述光传感器输出的上述信号进行积分并输出；

根据积分后的上述信号以及上述指示信号，生成直方图；

根据所生成的上述直方图来决定上述光传感器的增益。