[发明专利]一种随机取样过程中的触发抖动实时校正电路及方法

权利要求书

1.一种随机取样过程中的触发抖动实时校正电路，其特征在于，将触发信号及采样时钟设置与可编辑逻辑单元中的触发控制单元相连接，所述触发控制单元产生四路时序信号后设置与可编辑逻辑单元中的精密内插单元相连接，触发信号上升沿与其后第一个采样时钟上升沿之间的时间间隔t₁、一个采样时钟周期的时间间隔t₂、或者两个采样周期的时间间隔t₃到展宽电路及比较器，再设置与可编辑逻辑单元中的精密内插计数器相连接，产生计数值后输入至数字信号处理器，用于计算精密内插时间间隔，其中，t₁为需要测量的精密内插时间间隔，t₂和t₃用于内插时间校准。

2.如权利要求1所述的触发抖动实时校正电路，其特征在于，所述四路时序信号为RT1、RT2、RT3及RT4，其中，RT1与触发信号上升沿同步，RT2与触发信号之后的第一个采样时钟上升沿同步，RT3比RT2延迟1个采样时钟周期，RT4比RT2延迟两个采样时钟周期。

3.如权利要求1所述的触发抖动实时校正电路，其特征在于，所述比较器为高位数数模转换器。

4.如权利要求3所述的触发抖动实时校正电路，其特征在于，设置在触发信号上升沿与其后第一个采样时钟上升沿之间的时间间隔t₁基础上叠加一个采样时钟周期的时间间隔t₂，将t₁+t₂经比较器整形后输入到可编辑逻辑单元中的精密内插计数器中。

5.如权利要求4所述的触发抖动实时校正电路，其特征在于，所述数字信号处理器计算精密内插时间间隔的方法包括以下步骤：步骤一：测定一个采样时钟周期的时间间隔t₂展宽后的时间：

K×t₂=N_t2×T；

步骤二：测定两个采样时钟周期的时间间隔t₃展宽后的时间：

K×t₃＝N_t3×T；

步骤三：测量t₁+t₂展宽后的时间：K×(t₁+t₂)=N_t1+t2×T；其中，触发信号上升沿与其后第一个采样时钟上升沿之间的时间间隔为t₁，一个采样时钟周期的时间间隔为t₂。

步骤四：精密内插时间间隔t₁为：t₁=(N_t1+t2-N_t2)×T／N_t3-N_t2。