[发明专利]直插式通用电气连接装置

说明书

技术领域

本发明涉及半导体测试领域的一种连接接口，尤其是涉及一种直插式通用电气连接装置。

背景技术

通用芯片测试仪（Tester）与被测器件的连接信号接口一般分为直接压接形式和同轴连线方式。通过这两种方式将测试用的电信号传输到终测用插座上，从而与被测器件形成电气通路进行测试。其中第二种同轴连线方式是通过带有信号屏蔽层的同轴电缆，将测试仪输出的信号连接到终测插座板的。随着测试频率的提高，同轴电缆的质量就决定了测试信号的质量。同时，通常芯片测试用通道数量较多，如果是多芯片同测的话将和同测数量成正比上升，例如，双同测时一般可以达到300根线缆。由此，同轴电缆的采购成本也变得非常高昂。

测试接口板，或者称为产品板、输出板等，一般为测试设备提供的面向被测器件的电气接口，终测的插座板，其提供符合被测器件封装形式的插座，通过这个插座板内部的布线，将来自测试机台的信号连接到被测器件的引脚或焊球上。同轴电缆即连接测试接口板和插座板。

测试和反馈信号在该电缆内部传输的过程中有干扰和损耗，线缆的长度和本身设计的抗干扰能力就决定了整个测试仪输出的波形质量。为了适配不同的产品，必须各自定制不同的信号连线组合和设计相应的插座板。因此，某一种产品的测试成本中，有很大一部分消耗在定制同轴电缆上了。当测试为多芯片同时测量的时候，这部分的成本将直线上升。

发明内容

为了解决背景技术中提到的至少一个问题，本发明提供一种节约成本且使得传输的信号质量得到提高的直插式通用电气连接装置。

为了实现上述目的，本发明提出一种直插式通用电气连接装置，用于连接待测设备和测试设备，包括：测试接口板，连接所述测试设备；终测通用接口板，连接所述待测设备；至少一个信号传输板，连接在所述测试接口板和所述终测通用接口板之间，所述信号传输板包括信号布线层和与所述信号布线层相互间隔设置的屏蔽隔离层。

可选的，还包括强化固定支架，所述强化固定支架位于所述测试接口板和所述终测通用接口板之间。

可选的，所述测试接口板包括一通用测试插座。

可选的，在所述测试接口板和所述终测通用接口板之间设置一电源通道，所述电源通道和所述信号布线层隔离。

可选的，多个所述信号传输板相互平行设置。

可选的，所述信号传输板还包括标准接口框架，所述标准接口框架内设置多个信号针接插件。

可选的，相邻的所述信号针插件之间的距离相等。

本发明直插式通用电气连接装置的有益技术效果为：本发明直插式通用电气连接装置配合相应双端口连接方式，避免了使用同轴电缆作连接信号源和插座板，节约成本，还可以提高测试信号质量，使切换品种更快捷，终测用插座板牢固耐用程度提高，提高高低温测试能力。

附图说明

图1为本发明直插式通用电气连接装置的结构示意图。

图2为本发明直插式通用电气连接装置中信号传输板的结构示意图。

图3为信号传输板层间布线设计示意图。

具体实施方式

下面，结合附图1-3对本发明作进一步的详细说明。

本发明提出一种直插式通用电气连接装置，用于连接待测设备和测试设备，包括：测试接口板10，连接所述测试设备；终测通用接口板12，连接所述待测设备；至少一个信号传输板15，连接在所述测试接口板10和所述终测通用接口板12之间，所述信号传输板15包括信号布线层22和与所述信号布线层22相互间隔设置的屏蔽隔离层23。

本发明的信号传输板，在定制的时候可以选用一块或者多块配合使用。在切换品种时，还可以选用不同连接方式的信号传输板，适配不同的产品，使得同一套定制的插座板硬件可以使用到不同的产品需求上去。例如，产品A可以选用1、3、5、7编号的信号传输板；产品B可以选用1、2、3、4编号的信号传输板。进一步节约了测试成本，和方便不同产品切换。

位于所述测试接口板10和所述终测通用接口板12之间设有强化固定支架13，强化固定支架13使得所述测试接口板10和所述终测通用接口板12相互之间不发生位移。

在所述测试接口板10还包括一通用测试插座，信号传输板15内部将所有信号连接到测试插座，该测试插座可以在相同产品封装形式不同的产品管脚功能不同的情况下，改变底下信号传输板15的设计和选用就可适配所有被测产品。

在所述测试接口板10和所述终测通用接口板12之间设置一电源通道14，所述电源通道14和所述信号布线层22隔离，。