[发明专利]检测复合绝缘子伞裙老化的方法

权利要求书

1.一种检测复合绝缘子伞裙老化的方法，其特征在于，包括以下步骤：

选取复合绝缘子高压侧伞裙作为试样；

对所述试样进行慢正电子束测量，得到随正电子入射能量分布的多普勒展宽谱；

采集所述多普勒宽谱的S参数；

判断所述S参数是否在预设参数范围之内；

若是，则所述复合绝缘子伞裙老化。

2.根据权利要求1所述的检测复合绝缘子伞裙老化的方法，其特征在于，确认所述复合绝缘子伞裙老化的步骤之后还有计算老化层厚度的步骤，具体操作为：

采集位于所述预设参数范围内的S参数；

获取第一次出现在所述预设参数范围内的第一S参数数值和最后一次出现在所述预设参数范围之内的第二S参数数值；

采集所述第一S参数数值和所述第二S参数数值分别对应的正电子入射能量，得到第一正电子入射能量和第二正电子入射能量；

根据所述第一正电子入射能量和所述第二正电子入射能量，依据Z_m＝(40×10³/ρ)E₊^1.6计算正电子平均入射深度，得到第一正电子平均入射深度和第二正电子平均入射深度；

其中，所述Z_m为正电子平均入射深度，所述ρ为所述复合绝缘子伞裙的密度，所述E₊为正电子入射能量；

计算所述第二正电子平均入射深度与所述第一正电子平均入射深度的差值，得到的差值为老化层的厚度。

3.根据权利要求2所述的检测复合绝缘子伞裙老化的方法，其特征在于，所述老化层为硅氧层。

4.根据权利要求1所述的检测复合绝缘子伞裙老化的方法，其特征在于，所述预设参数范围为0.48-0.49。

5.根据权利要求1-4任一项所述的检测复合绝缘子伞裙老化的方法，其特征在于，根据所述多普勒宽谱的S参数的变化趋势将所述复合绝缘子高压侧伞裙分为表层、界面层和体层。