[发明专利]阻抗源量程调节设备和方法

权利要求书

1. 一种阻抗提供电路，用于构造成对被测试装置进行测量的测量装置，所述阻抗提供电路包括：

耦合至所述被测试装置的电压/电流源；

电控可变电阻，所述电控可变电阻具有构造成调节所述可变电阻的控制输入；以及

耦合至所述电控可变电阻的所述控制输入的回路增益控制器，所述回路增益控制器构造成驱动所述电控可变电阻的所述控制输入，以调节所述可变电阻使其与所述被测试装置的阻抗基本匹配。

2. 根据权利要求1所述的阻抗提供电路，还包括：

构造成检测所述被测试装置两端的电压的电压检测器。

3. 根据权利要求2所述的阻抗提供电路，还包括：

电压基准。

4. 根据权利要求3所述的阻抗提供电路，其中，所述回路增益控制器构造成基于在所述被测试装置的两端检测到的电压和所述电压基准来驱动所述电控可变电阻的所述控制输入。

5. 根据权利要求3所述的阻抗提供电路，其中，所述回路增益控制器包括运算放大器（op-amp），所述运算放大器构造成基于在所述被测试装置的两端检测到的电压和所述电压基准来驱动所述电控可变电阻的所述控制输入。

6. 根据权利要求1所述的阻抗提供电路，还包括电压基准电路，所述电压基准电路构造成将由电压/电流源供给的电压分成两半。

7. 根据权利要求6所述的阻抗提供电路，其中，所述电压基准电路包括缓冲放大器，所述缓冲放大器具有耦合至非反相输入的电阻分压器。

8. 根据权利要求1所述的阻抗提供电路，其中，所述电控可变电阻构造为电压受控电流源。

9. 根据权利要求1所述的阻抗提供电路，还包括外部回路，所述外部回路构造成用于电流/电压的提供以及所述被测试装置的电气特性的测量。

10. 根据权利要求1所述的阻抗提供电路，还包括增益压缩/扩展电路，所述增益压缩/扩展电路构造成增大或减小所述电压/电流源的跨导（gm）。

11. 根据权利要求1所述的阻抗提供电路，其中，所述电压/电流源构造为电压源或电流源。

12. 一种提供阻抗提供电路的方法，所述阻抗提供电路用于构造成对被测试装置进行测量的测量装置，所述方法包括：

向所述被测试装置提供电压/电流源；

提供电控可变电阻，所述电控可变电阻具有构造成调节所述可变电阻的控制输入；以及

驱动所述电控可变电阻的所述控制输入，以调节所述可变电阻使其与所述被测试装置的阻抗基本匹配。

13. 根据权利要求12所述的方法，还包括：

检测所述被测试装置两端的电压。

14. 根据权利要求13所述的方法，还包括：

生成电压基准。

15. 根据权利要求14所述的方法，还包括基于在所述被测试装置的两端检测到的电压和所述电压基准来驱动所述电控可变电阻的所述控制输入。

16. 根据权利要求12所述的方法，还包括提供运算放大器（op-amp），所述运算放大器构造成基于在所述被测试装置的两端检测到的电压和所述电压基准来驱动所述电控可变电阻的所述控制输入。

17. 根据权利要求14所述的方法，还包括提供电压基准电路，所述电压基准电路构造成将由电压/电流源供给的电压分成两半，以生成所述电压基准。

18. 根据权利要求14所述的方法，还包括提供具有缓冲放大器的电压基准电路，所述缓冲放大器具有耦合至非反相输入以生成所述电压基准的电阻分压器。

19. 根据权利要求12所述的方法，其中，所述电控可变电阻构造为电压受控电流源。

20. 根据权利要求12所述的方法，还包括提供外部回路，所述外部回路构造成用于电流/电压的提供以及所述被测试装置的电气特性的测量。

21. 根据权利要求12所述的方法，还包括提供增益压缩/扩展电路，所述增益压缩/扩展电路构造成增大或减小电压/电流源的跨导（gm）。