[发明专利]制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法有效
申请号: | 201310503124.7 | 申请日: | 2013-10-23 |
公开(公告)号: | CN103531679A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 喻颖;査国伟;徐建星;尚向军;李密锋;倪海桥;贺振宏;牛智川 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L33/04 | 分类号: | H01L33/04;H01L33/00;H01L33/14;B82Y10/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 制备 棱柱 纳米 中的 量子 光子 方法 | ||
1.一种制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法,包括如下步骤:
步骤1:取一半导体衬底,在该半导体衬底上生长二氧化硅层,该二氧化硅层上含有氧化孔洞;
步骤2:对生长有二氧化硅层的半导体衬底进行清洗;
步骤3:采用自催化的方法,在二氧化硅层上生长GaAs纳米线,该GaAs纳米线的顶端形成一Ga液滴;
步骤4:采用高As压处理消耗GaAs纳米线顶端的Ga液滴,抑制GaAs纳米线的轴向VLS生长,形成六棱柱状结构;
步骤5:在六棱柱状结构的侧壁淀积第一AlGaAs势垒层,在AlGaAs势垒层的表面低速淀积GaAs量子点;
步骤6:在GaAs量子点上覆盖第二AlGaAs势垒层;
步骤7:在第二AlGaAs势垒层的表面生长GaAs保护层,完成制备。
2.根据权利要求1所述的制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法,其中该半导体衬底的材料为GaAs(001)或GaAs(111)B。
3.根据权利要求1所述的制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法,其中在半导体衬底上生长二氧化硅层,采用的是离子束溅射的方法,该二氧化硅层的厚度为10-20nm。
4.根据权利要求1所述的制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法,其中清洗的水溶液为HF,浓度为2-4%。
5.根据权利要求1所述的制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法,其中在二氧化硅层上生长GaAs纳米线的温度为600-670℃;生长时间为60-90min;生长速率为0。6-0。8ML/s;长度为5-7μm。
6.根据权利要求1所述的制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法,其中生长第一AlGaAs势垒层和第二AlGaAs势垒层采用的是高温高砷压,使其充分迁移,形成良好的双势垒结构并隔绝表面态对GaAs量子点的影响。
7.根据权利要求6所述的制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法,其中GaAs量子点的生长温度为550℃,生长时间为5-20min:生长速率为0.1ML/s。
8.根据权利要求1所述的制备六棱柱纳米微腔中的量子点单光子源的方法,其中GaAs保护层的生长温度为670℃;生长时间为10min;生长速率与GaAs纳米线一致,其作用是保护其表面使其不受氧化影响。
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