[发明专利]一种激光回波模拟装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310506921.0 申请日: 2013-10-24
公开(公告)号: CN103557753A 公开(公告)日: 2014-02-05
发明(设计)人: 陈慧敏;高志林;朱雄伟;刘新阳 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: F42B35/00 分类号: F42B35/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 激光 回波 模拟 装置 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种激光回波模拟装置及方法,属于激光技术领域。

背景技术

半主动激光制导炸弹需要定期进行检测以确定弹的工作状态是否正常,本发明的一种激光回波模拟装置及方法用于某型号半主动激光制导炸弹全弹性能的检测,由于半主动激光制导炸弹的激光照射器位于机载平台上,在地面进行全弹性能检测与实战环境存在较大差异,本发明的一种激光回波模拟装置及方法,通过模拟半主动激光制导炸弹导引头接收到的回波信号的编码、重频、脉宽等信息,有效解决了半主动激光制导炸弹的检测问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种激光回波模拟装置及方法,作为半主动激光制导炸弹全弹性能检测装置。根据所检测半主动激光制导炸弹的编码而产生测试所需的编码,产生4路模拟回波控制信号,模拟“目标在上、目标在下、目标在左、目标在右”四个方位的激光目标,同时激光回波控制器具有自检功能。

本发明是通过以下技术方案实现的。

本发明的一种激光回波模拟装置,包括激光回波控制器和激光回波模拟器;

激光回波控制器包括通信控制模块、编码信号产生模块和自检反馈信号调理模块;激光回波模拟器包括4个激光二极管驱动模块和4个光束整形系统;

上位机利用串口(如RS-485),通过通信控制模块发送特定命令给激光回波控制器中的编码信号产生模块,生成特定编码、特定方位的激光回波控制信号,利用激光回波控制器控制激光二极管驱动模块产生激光,通过光束整形系统后生成所需的模拟回波。上位机可以通过通信控制模块接收自检反馈信号调理模块的调理结果,实现激光回波控制器自检。

其中,激光回波控制器包括微控制器(如C8051F362单片机)、电源模块、程序调试及下载模块和通信控制模块,其连接关系为:电源模块为C8051F362单片机、程序调试及下载模块和通信控制模块供电,晶振电路连接到单片机的P0.4、P0.5管脚。

上述激光回波控制器电路中电源模块向C8051F362单片机、程序调试及下载模块和通信控制模块供电,程序调试及下载模块用于程序的下载与在线调试;通信控制模块用于回波模拟装置与上位机之间通信,实现控制命令的发送以达到控制模拟回波的目的,通过发送命令之后的返回值来判断激光回波模拟装置的状态是否正常;单片机用于实现对激光回波模拟器的控制,首先,在硬件设计上将单片机的四个管脚分别分配给激光回波模拟器四个象限的激光二极管驱动电路的输入端,在硬件上实现控制器与模拟器相联,其次,在控制算法上,通过对上述四个管脚的定义及算法编程实现单片机资源的利用,程序分别实现模拟四象限回波的控制,最后,通过通信控制模块将激光回波控制器与激光回波模拟器相连,实现对激光回波模拟器的控制。

其中,激光回波模拟器为激光二极管驱动电路和光束整形系统;

上述激光二极管驱动电路包括高速单通道MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)驱动芯片EL7104,NMOS晶体管BSH105,电阻R1、R2、R3、R4、R5,电容C1、C2、C3、C4,电源VD,Signal(输入信号);其连接关系为:从单片机定义的引脚作为信号输出端连接到EL7104的信号输入管脚2,同时该信号输入引脚连接到电阻R1的一端、电阻R1的另一端直接接地,电容C2一端接到电源VD另一端接地作为去耦电容,电阻R2一端接到电源VD、另一端分成两部分分别接到EL7104的管脚1、8与电容C1的一端,电容C1的另一端直接接地,EL7104的管脚4、5均接地、管脚3为空,EL7104的管脚6、7接到电阻R3的一端,R3的另一端分别接到电阻R4的一端与NMOS管BSH105的栅极,电阻R4的另一端接地,电阻R5的一端接到电源VD、另一端接到NMOS管BSH105的漏极,NMOS管BSH105的源极接到激光二极管的正极、激光二极管的负极接地,NMOS管BSH105的漏极同时接到电容C3、C4的一端,电容C3、C4的另一端接地。

上述光束整形系统用于将激光二极管发出的光束进行整形,采用直径16mm、焦距30mm的平凸透镜,透镜材料为K9玻璃。

本发明的一种激光回波模拟方法,该方法为控制算法,该控制算法利用激光回波控制器来实现对四个象限激光回波信号的控制,从而实现模拟四象限回波达到某型号半主动激光制导炸弹的全弹性能检测的目的;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京理工大学,未经北京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310506921.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top