[发明专利]一种离子注入机的均匀性校正控制系统无效
申请号: | 201310507612.5 | 申请日: | 2013-10-24 |
公开(公告)号: | CN104576275A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 姜翼展 | 申请(专利权)人: | 北京中科信电子装备有限公司 |
主分类号: | H01J37/317 | 分类号: | H01J37/317 |
代理公司: | 无 | 代理人: | 无 |
地址: | 101111 北京市通*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 离子 注入 均匀 校正 控制系统 | ||
1.一种离子注入机的均匀性校正控制系统,该系统包括(1)剂量控制器(2)离子束扫描系统(3)电机控制器(4)移动靶台(5)均匀性控制器(6)移动法拉第(7)闭环法拉第(8)角度法拉第。其中,(1)剂量控制器通过SPI与均匀性控制器进行通讯。(5)均匀性控制器中的运动控制器控制(3)电机控制器对移动靶台运动进行调整。(1)剂量控制器通过采集(6)移动法拉第(7)闭环法拉第(8)角度法拉第以及(2)离子束扫描系统中束口主剂量杯传送回的束流信号经过分析后,对(2)离子束扫描系统(3)电机控制器发出控制信号,来控制离子注入剂量,注入位置,扫描速度等控制参数。
2.如权利要求1所述一种离子注入机的均匀性矫正控制系统,其特征在于使用(1)剂量控制器,通过通讯实现对整体均匀性矫正的控制。整个系统在(1)剂量控制器和(5)均匀性控制器的控制下实时完成注入控制。通过采集(6)移动法拉第(7)闭环法拉第(8)角度法拉第以及(2)离子束扫描系统中束口主剂量杯传送回的束流信号进行分析运算后,发出控制信号于电机控制器,修正电机运行轨迹,调整平行束校正磁铁的磁场来修正离子束的角度,达到均匀平行注入的要求。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中科信电子装备有限公司;,未经北京中科信电子装备有限公司;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310507612.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:等离子体处理方法
- 下一篇:交流接触器的控制方法和装置