[发明专利]一种设备直线度和垂直度的检测方法、装置在审

专利信息
申请号: 201310507811.6 申请日: 2013-10-24
公开(公告)号: CN104567749A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 舒远;王光能;闫静;米野;高云峰 申请(专利权)人: 深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族电机科技有限公司
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27;G01B11/26
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 张全文
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 设备 直线 垂直 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种设备直线度和垂直度的检测方法,其特征在于,包括:

将设备的X轴的初始位置设置在标定板中标记点的位置,拍摄设备拍一幅包含所述X轴以及所述标定板的标记点的图像,每当所述X轴的初始位置移动xmm后,所述拍摄设备拍一幅图像,共拍M1幅包含所述X轴以及所述标定板的标记点的图像,并在拍摄的M1幅图像中,获取与所述X轴相对应的标记点的像素坐标,所述M1为大于等于1的整数;

根据获取到所述M1幅图像中标记点的像素坐标,拟合生成所述X轴的标记点直线,生成所述设备的X轴的直线度测试结果;

将设备的Y轴的初始位置设置在标定板中标记点的位置,拍摄设备拍一幅包含所述Y轴以及所述标定板的标记点的图像,每当所述Y轴的初始位置移动ymm后,所述拍摄设备拍一幅图像,共拍M2幅包含所述Y轴以及所述标定板的标记点的图像,并在拍摄的M2幅图像中,获取与所述Y轴相对应的标记点的像素坐标,所述M2为大于等于1的整数;

根据获取到所述M1幅图像中标记点的像素坐标,拟合生成所述Y轴的标记点直线,生成所述设备的Y轴的直线度测试结果;

获取拟合生成的所述X轴的标记点直线与所述X轴的夹角θx,并获取拟合生成的所述Y轴的标记点直线与所述Y轴的夹角θy,根据所述θx和所述θy生成所述X轴与所述Y轴的夹角θxy,生成所述设备X轴与Y轴之间的垂直度测试结果。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

当所述θxy与预设角度不同时,调整所述θxy至预设角度,较正所述设备X轴与Y轴之间的垂直度。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,还包括:

将所述X轴初始位置设置在标记点的位置,每当所述X轴的初始位置移动xmm后,所述拍摄设备拍一幅图像,共拍N1幅包含X轴以及所述标定板的标记点的图像,每当所述Y轴的初始位置移动ymm后,所述拍摄设备拍一幅图像,连续拍N2幅包含Y轴以及所述标定板的标记点的图像,所述N1为大于等于1的整数,所述N2为大于等于1的整数;

对所述X轴拍摄的N1幅所述图像中的标记点的像素坐标进行处理,拟合生成所述X轴的标记点直线,生成所述设备的较正后X轴的直线度测试结果;

对所述Y轴拍摄的N2幅所述图像中的标记点的像素坐标进行处理,拟合生成所述Y轴的标记点直线,生成所述设备较正后的Y轴的直线度测试结果。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据获取到所述M1幅图像中标记点的像素坐标,拟合生成所述X轴的标记点直线,包括:

以所述M1幅图像中的第一幅图像为基准,将所述M1幅图像拼接成一幅图像;

提取M1幅图像中标记点的像素坐标,根据所述标记点的像素坐标拟合生成X轴的标记点直线。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据获取到所述M2幅图像中标记点的像素坐标,拟合生成所述Y轴的标记点直线,包括:

以所述M2幅图像中的第一幅图像为基准,将所述M2幅图像拼接成一幅图像;

提取M2幅图像中标记点的像素坐标,根据所述标记点的像素坐标拟合生成Y轴的标记点直线。

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