[发明专利]一种数列相位差比较差别的方法

权利要求书

1.一种数列相位差比较差别的方法，其特征在于它包括如下步骤：

A.将待对比的两个数列输入存储模块；

B.设置两个数列变量模块SeqX，SeqY，数列变量模块SeqX，SeqY分别设有若干个数据位，并获取预计的相位差方向D， True表示正向，False表示反向，大小N；

C.如果D为正向，将数列A、B分别拷贝给SeqX、SeqY；如果D为反向，将数列B、A分别拷贝给SeqX、SeqY；

D.获取指定的周期范围对应的单位周期序号，最小序号为Min，最大序号为Max，定义一个考察数列段长度SegLen，该长度应该不小于N，应该不大于整个所述指定的周期范围的长度的一半；

E.初始化定义如下3个单位周期段游标模块，并初始化单位周期段游标模块的范围，单位周期段游标模块包含两个成员变量（Stt，End），Stt表示当前周期段在相应数列中的起始位，End表示当前周期段在相应数列中的结束位；

ⅰ定义一个单位周期段游标模块SegCur，初始化SegCur对应的起始位为Min+N+1，结束位为Min+N+SegLen；

ⅱ定义一个单位周期段游标模块HdrCur，初始化HdrCur对应的起始位为Min+1，结束位为Min+N；

ⅲ定义一个单位周期段游标模块TlrCur，初始化TlrCur对应的起始位为Min+1+SegLen，结束位为Min+N+SegLen；

F.定义两个统计变量：Miss，ErrAcc，均初始化为0；

G.通过单位周期段模块从头至尾对数列进行遍历，在每次循环中统计上述单位周期段的相应指标，并根据判断条件计算统计变量，过程如下：

ⅰ统计SegCur在SeqX中覆盖住的数据项数值的总和，得到SumSegX；

ⅱ统计HdrCur在SeqX中覆盖住的数据项数值的总和，得到SumHdrX；

ⅲ统计TlrCur在SeqX中覆盖住的数据项数值的总和，得到SumTlrX；

ⅳ统计SegCur在SeqY中覆盖住的数据项数值的总和，得到SumSegY；

ⅴ如果SumSegY ≤ SumSegX+SumHdrX，并且SumSegY≥SegSegY-SumTlrX，保持Miss和ErrAcc不变，否则：Miss数值加一，即Miss = Miss + 1；

ⅵ如果SumSegY≤SumSegX+SumHdrX不成立，在变量ErrAcc上累加SumSegY与SumSegX+SumHdrX的差值，即ErrAcc = ErrAcc + SumSegY – SumSegX - SumHdrX；

ⅶ如果SumSegY≥SegSegY-SumTlrX不成立，在变量ErrAcc上累加SumSegY与SegSegY-SumTlrX的差额的绝对值，即ErrAcc = ErrAcc + SegSegY - SumTlrX - SumSegY；

H.如果SegCur的结束单位周期序号与Max重合，结束循环，进入下一步；否则同时移动上述单位周期段，每次循环将三个周期正向移动一个单位周期，即将单位周期段游标的两个成员变量Stt、End进行递增，继续遍历；

I.循环结束后，如果Miss与ErrAcc依然为0，最终判定的结果为真，表示两个数列之间的相位差的方向与预计方向相同，并在预计的相位差范围内；否则，最终判定的结果为假，表示两个数列之间的相位的差，没有落在预定的相位差范围内；

所述的数列相位差是指在两个数列A、B之间，如果A的每个数列项对应的数据，都能够在数列B的前后若干个单位周期范围内，找到匹配的数列项，这个范围的方向及最小长度就是数列相位差。