[发明专利]一种基于CCD的高精度测量方法有效
申请号: | 201310509532.3 | 申请日: | 2013-10-25 |
公开(公告)号: | CN103499297A | 公开(公告)日: | 2014-01-08 |
发明(设计)人: | 耿磊;王忠强 | 申请(专利权)人: | 爱科维申科技(天津)有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人: | 莫琪 |
地址: | 300402 天津市*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 ccd 高精度 测量方法 | ||
1.一种基于CCD的高精度测量方法,包括下列步骤:
标定摄像机内外参数并校正图像;
定位被测物;
区分被测物上下边缘,提取上表面亚像素边缘;
测量被测物高度,确定被测物的边缘实际坐标;
导入被测零件的CAD数据,创建模板并匹配;
将模板与被测物边缘模型进行比较并进行误差分析。
2.根据权利要求1所述的一种基于CCD的高精度测量算法,其特征在于,步骤(2)中,为了缩小匹配范围,提高匹配的速度和精度,首先需要对被测物定位,由于被测物和图像背景之间存在非常显著的灰度差,采用基于灰度直方图的分割方法,对图像的直方图高斯平滑后,选择直方图两峰之间的最小值为阈值进行分割,得到的区域用3 3的正方形结构元素膨胀,设置膨胀后的区域为感兴趣区域ROI。
3.根据权利要求1所述的一种基于CCD的高精度测量算法,其特征在于,步骤(3)中,采用基于16邻域的方法区分上下边缘,对ROI中的任一像素p,计算16邻域外层灰度最小值,若最小值大于阈值T,则认为此像素点不属于被测物上表面的像素点,将其值设为255,计算方法为:设集合
(1)
(2)
其中为图像灰度值;
M为图像矩阵纵坐标集合;
N为图像矩阵纵坐标集合;
A为图像矩阵横坐标集合;
B为图像矩阵横坐标集合;
r为图像矩阵纵坐标;
c为图像矩阵横坐标;
T为设定的阈值;
图像边缘点处于灰度分布函数斜率最大的地方,恢复图像边缘过渡区域的一维连续灰度分布函数后,亚像素边缘位于灰度分布函数斜率的极值点位置,使用Canny滤波器获取高精度的亚像素边缘。
4.根据权利要求1所述的一种基于CCD的高精度测量算法,其特征在于,步骤(4)中,采用点激光器测量被测物高度,测量时,首先激光器投射出点状激光到被测物表面, 记图像上点状激光中心为,然后放置已知精确高度的量块到平面上,投射出点状激光到量块上并拍摄图片,记图像上点状激光中心为,再将点状激光投射到被测物表面上,由CCD摄像机拍射下此时物体表面上的成像,记图像上点状激光中心为,由于被测物体与量块高度不同,所以两次成像在水平方向上是不同的,从而利用三角法计算出物体厚度可由式(3)、(4)求得:
(3)
(4)
式中:
h为被测物的厚度;
D为两点之间的距离;
r为图像矩阵纵坐标;
c为图像矩阵横坐标;
测得被测物的厚度后,根据摄像机外部参数和厚度信息把测量平面转换到被测物的上平面,得到被测物上边缘在世界坐标系下的坐标。
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