[发明专利]用于光学伺服系统频谱曲线测试的光学Chirp信号生成方法无效
申请号: | 201310516068.0 | 申请日: | 2013-10-28 |
公开(公告)号: | CN103591967A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 张宁;沈湘衡;宋莹;姬琪 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G05D3/12 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 张伟 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 光学 伺服系统 频谱 曲线 测试 chirp 信号 生成 方法 | ||
1.一种用于光学伺服系统频谱曲线测试的光学Chirp信号生成方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一,由平行光管产生可在光电经纬仪成像传感器上成像的目标,使平行光管的目标能够在光电经纬仪上清晰成像;
步骤二,通过时统终端在光学Chirp信号生成装置和光电经纬仪之间建立统一时间基准;
建立主控计算机和光电经纬仪之间的串行通讯,利用主控计算机设置光学Chirp信号的幅值、信号包络、线性调频斜率参数,然后通过RS422串口通讯将参数给伺服控制器;
伺服控制器进行控制处理后产生PWM信号送至伺服驱动器;
伺服驱动器驱动力矩电机转动,使旋转臂绕精密轴系摆动;
24位绝对式光电编码器完成对旋转臂的角位置和角速度的精密测量;
根据被检测光电经纬仪的性能指标,按照光学Chirp信号生成公式计算光学Chirp信号的信号包络、线性调频斜率和幅度值,使生成的光学Chirp信号能够覆盖被检测光电经纬仪工作角速度范围;
通过在主控计算机光学Chirp信号的信号包络、线性调频斜率和幅度值,并启动设备工作;
使旋转臂按照设定速度和幅度带动平行光管摆动,产生光学Chirp信号;
步骤三,光电经纬仪跟踪光学Chirp信号,并将跟踪误差信息通过串行通讯接口发送至主控计算机,由主控计算机完成对光电经纬仪频谱曲线的计算处理。
2.根据权利要求1所述的用于光学伺服系统频谱曲线测试的光学Chirp信号生成方法,其特征在于,所述平行光管产生的光谱范围能够覆盖可见至长波红外波段。
3.根据权利要求2所述的用于光学伺服系统频谱曲线测试的光学Chirp信号生成方法,其特征在于,所述平行光管为溴钨灯。
4.根据权利要求1所述的用于光学伺服系统频谱曲线测试的光学Chirp信号生成方法,其特征在于,所述平行光管的目标板为星点孔、十字丝或分划板。
5.根据权利要求1-4中的任意一项所述的用于光学伺服系统频谱曲线测试的光学Chirp信号生成方法,其特征在于,步骤二中,被检测光电经纬仪的性能指标包括:保精度工作角速度范围、跟踪精度,以及最高角速度、角加速度。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310516068.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。