[发明专利]一种辐射计光阑面积的高精度测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及光辐射测量领域，具体涉及一种辐射计光阑面积的高精度测量装置。

背景技术

一些辐射学和光度学的测量是以高精度测量精密光阑面积为基础的，面积的测量精度是限制辐射计和光度计测量精度的重要因素，因为孔径光阑的大小限制了入射光几何区域，决定了计算辐射照度时的入射面积以及辐射亮度的立体角，因此高精度测量孔径光阑的面积有着至关重要的意义。

目前测量孔径光阑面积的装置有很多，比较常见的测量精度较高的一种是有效面积法的测量装置，如图1。有效面积法的测量过程为：首先调节HeNe激光器1，使其输出稳定的高斯光束。光束经可变光阑2和光束分离器3后，50%能量反射50%能量透过，光束分离器3将一部分光束分到陷阱探测器4用来作为激光器的监视器，确保激光器输出光束功率稳定。一部分透过光束打到被测孔径光阑6表面。x-y平移台5带动被测孔径光阑6移动，等效生成照度稳定的光区域，积分球7和探测器8用来测量透过孔径光阑6的辐射通量。

此测量装置实际上用平移台移动孔径光阑6代替激光束叠加而得到恒定照度的光源分布。被测孔径光阑6后面放有一个积分球探测器，用来测量辐射通量。被测光阑由x-y平移台5带动在x和y方向以恒定的步距Δx，Δy在一个n_xΔx×n_yΔy测量范围之内扫描。被测光阑在（j，k）位置时，探测器测得的功率值为P_j，k（j=1,2,....n_x，k=1,2,....n_y),辐射通量为照度为测量孔径光阑面积的方程为：A=Σj=1nxΣk=1nypj,yΔxΔyPL.]]>

但是，现有技术的这种测量装置比较复杂，测量过程较为繁琐，同时测量装置中对平移台精度要求较高，其精度直接影响测量孔径光阑面积的精度。

发明内容

本发明要解决现有技术中测量装置比较复杂，测量过程较为繁琐，测量精度容易受到影响的技术问题，提供一种辐射计光阑面积的高精度测量装置。

为了解决上述技术问题，本发明的技术方案具体如下：

一种辐射计光阑面积的高精度测量装置，包括：

照度均匀的光源系统，其为孔径光阑提供辐射通量；

设置在孔径光阑后面的积分球探测器，用来测量辐射通量；

用来支撑孔径光阑的支撑架。

在上述技术方案中，照度均匀的光源系统为半导体激光器堆叠光源。

本发明具有以下的有益效果：

本发明的辐射计光阑面积的高精度测量装置，直接采用半导体激光器堆叠实现的照度均匀的光源系统，省去了平移台的使用，这将使实验过程大大简化，同时也减少了因使用平移台带来的系统不确定度。

本发明的辐射计光阑面积的高精度测量装置，测量过程简单，同时又减少了复杂的测量装置中各个部分带来的系统不确定度，间接的测量光阑的面积，测得的光阑面积为有效面积或辐射计量面积，并非光阑机械面积，这对光阑面积测量的实际应用有着很大的进步意义。

本发明的辐射计光阑面积的高精度测量装置，可以适用于多种需要精确测量光阑面积的系统，不仅仅局限于辐射计光阑面积的测量。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。

图1为现有技术中的有效面积法的测量装置结构示意图；

图2为本发明的辐射计光阑面积的高精度测量装置的结构示意图；

图中的附图标记表示为：