[发明专利]具有保护功能的集成电路及操作系统

说明书

技术领域

本发明是有关于一种集成电路，特别是有关于一种可测量电流及具有过流或过温保护的集成电路。

背景技术

随着半导体制造工艺的进步，许多电路架构可被整合在一集成电路(integrated circuit；IC)之中。因此，电子产品的种类及功能愈来愈多，并且电子产品的体积不会随着功能变多而变大。然而，由于电子产品的体积小，因此，电子产品内部的元件无法承受大电流。当电子产品内部的元件接收到过大的电流时，可能因而损坏。

发明内容

本发明提供一种集成电路，根据一输入电压，产生一驱动信号予一负载，并包括一阻抗开关单元、一第一保护单元、一第一检测单元以及一控制单元。阻抗开关单元根据一控制信号，将输入电压作为驱动信号。当流经阻抗开关单元的电流大于一预设电流时，第一保护单元产生一第一检测信号。第一检测单元检测阻抗开关单元的电压，用以产生一检测结果。控制单元根据第一检测信号，产生控制信号。

本发明提供另一种集成电路，其根据一输入电压，产生一驱动信号予一负载，并包括一阻抗开关单元、一第一保护单元、一第一检测单元以及一控制单元。阻抗开关单元根据一控制信号，将输入电压作为驱动信号。第一保护单元检测集成电路的内部温度。当集成电路的内部温度大于一预设温度时，第一保护单元产生一第一检测信号。第一检测单元检测阻抗开关单元的电压，用以产生一检测结果。控制单元根据第一检测信号，产生控制信号。

本发明还提供一种操作系统，所述操作系统包括：一第一集成电路，包括：一阻抗开关单元，根据一控制信号，将一输入电压作为一驱动信号；一第一保护单元，当流经该阻抗开关单元的电流大于一预设电流时，产生一第一检测信号；一第一检测单元，检测该阻抗开关单元的电压，用以产生一检测结果；以及一控制单元，根据该第一检测信号，产生该控制信号；一负载，根据该驱动信号而动作；以及一第二集成电路，接收该检测结果，用以计算该负载的功率损耗。

附图说明

图1为本发明的操作系统的一可能实施例。

图2A及2B为本发明的集成电路的一可能实施例。

图3A及3B为本发明的保护单元的一可能实施例。

符号说明：

100：操作系统；

110、120：集成电路；

130：负载；

210A、210B：阻抗开关单元；

220、260：保护单元；

230、270：检测单元；

240：控制单元；

211：阻抗单元；

212、234：晶体管；

221：限流模块；

222：突波保护模块；

224：抗尖峰脉冲电路；

250：转换单元；

280：禁能单元；

313、325：热感测装置；

314：齐纳二极管；

231、232、235、RDS、311、312、321～324：电阻；

223、233、315、326：比较器；

VIN：输入电压；

S_D：驱动信号；

S_C：控制信号；

EN：外部使能信号；

OC：过流信号；

S_{S_OUT}：检测结果；

SCL：时脉信号；

SDA：数据信号；

I_S：电流；

S_DET1～S_DET3：检测信号；

S_SA：转换信号；

V_s、V1、Vcc：电压；

Vref1～Vref4：参考电压；

GND：接地位准。

具体实施方式

图1为本发明的操作系统的一可能实施例。如图所示，操作系统100包括集成电路110、120以及一负载130。集成电路110接收输入电压VIN，并根据输入电压VIN产生一驱动信号S_D。负载130根据驱动信号SD而动作。在一可能实施例中，集成电路110具有一传输路径(未显示)，用以传送输入电压VIN，并将输入电压VIN作为驱动信号S_D。