[发明专利]光谱分析系统有效
申请号: | 201310525282.2 | 申请日: | 2013-10-30 |
公开(公告)号: | CN103592025A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 陈文聪;蒲以康 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱分析 系统 | ||
1.一种光谱分析系统,其特征在于,包括:
切尼-特纳光路结构,所述切尼-特纳光路结构用于将光源的光谱分光为不同波长单色光后平行地输出;
光电倍增管阵列,所述光电倍增管阵列包括N个光电倍增管,N为正整数;
光纤阵列,所述光纤阵列包括N组光纤,各组光纤的第一端排成与入射狭缝平行方向的一列安装在所述切尼-特纳光路结构的聚焦平面上,其中所述各组光纤的第一端收集不同波长单色光,所述N组光纤的第二端与所述N个光电倍增管一一对应地相连以将不同波长的光信号传导到不同的光电倍增管;
多通道时间门控计数器,所述多通道时间门控计数器与所述多个光电倍增管分别电性连接;
高压电源,所述高压电源与所述光电倍增管阵列电性连接;和
温度控制模块,所述温度控制模块与所述光电倍增管阵列相连,用于在进行光谱测量时将所述光电倍增管阵列维持在恒定的低温环境。
2.如权利要求1所述的光谱分析系统,其特征在于,所述切尼-特纳光路结构具体包括:入射狭缝、准直反射镜、衍射光栅和聚焦反射镜,其中,光源发出的连续光谱经过所述入射狭缝到照射到所述准直反射镜上,然后经过所述准直反射镜反射形成平行光,所述平行光经过所述衍射光栅衍射后,通过所述聚焦反射镜使不同波长的单色光聚焦到同一焦平面上的不同位置。
3.如权利要求1或2所述的光谱分析系统,其特征在于,各组光纤中包括的光纤数目相同。
4.如权利要求1-3所述的光谱分析系统,其特征在于,所述光电倍增管工作于光子计数模式,所述多通道门控计数器对所述N个光电倍增管同时进行光子计数。
5.如权利要求1-4所述的光谱分析系统,其特征在于,所述光纤为多模光纤。
6.如权利要求1-5所述的光谱分析系统,其特征在于,通过已知原子气体放电灯标定可以确定每个光电倍增管所采集的光信号的波长。
7.如权利要求1-6所述的光谱分析系统,其特征在于,当需要采集指定波长的谱线时,通过调节光纤阵列在第一端的每列光纤间距以改变每个光电倍增管对应的波长。
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