[发明专利]绝缘子样品老化度检测方法有效
申请号: | 201310531737.1 | 申请日: | 2013-11-02 |
公开(公告)号: | CN103558241A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 张来福;刘国强;李晓南;高鹏;王琪 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;国网山西省电力公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01N24/08 | 分类号: | G01N24/08 |
代理公司: | 山西科贝律师事务所 14106 | 代理人: | 陈奇 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 绝缘子 样品 老化 检测 方法 | ||
1.一种绝缘子样品老化度检测方法,包括以下步骤:
第一步、选取12个体积相同的磁性材料相同的立方体形磁体子模块(1)进行充磁,使每个立方体形磁体子模块(1)的充磁强度相同,并充磁方向也相同;
第二步、将12个立方体形磁体子模块(1)等弧度间隔地均布在同一圆周上的,若选取其中的一个立方体形磁体子模块(1)的充磁方向(X)做为基准,在该同一圆周上,沿顺时针方向依次布置的各立方体形磁体子模块的充磁方向沿顺时针方向依次旋转60度的;
第三步、在12个立方体形磁体子模块(1)均布的该同一圆周所在圆的圆心位置上设置检测线圈(15),在检测线圈(15)的中心轴正上方设置被检测绝缘子样品(17);
第四步、将检测线圈(15)的一端接地,将检测线圈(15)的另一端与阻抗匹配电容(16)的一端连接,在检测线圈(15)的两端并联频率调谐电容(3),阻抗匹配电容(16)的另一端分别与长度为1/4波长无损耗线(4)的一端和串联二极管对管(7)的一端连接,长度为1/4波长无损耗线(4)的另一端分别与前置放大器(5)的输入端和并联二极管对管(6)的一端连接,并联二极管对管(6)的另一端接地,前置放大器(5)的输出端与门控开关(10)的一端连接,门控开关(10)的另一端与混频器(11)的第一输入端连接,混频器(11)的输出端与模数转换器(12)的输入端连接,模数转换器(12)的输出端与计算机(14)的输入端连接,计算机(14)的输出端与射频信号源(13)的输入端连接,射频信号源(13)的输出端分别与混频器(11)的第二输入端和脉冲调制开关(9)的输入端连接,脉冲调制开关(9)的输出端与功率放大器(8)的输入端连接,功率放大器(8)的输出端与串联二极管对管(7)的另一端连接;
第五步、在计算机的控制下,功率放大器输出CPMG脉冲序列,对绝缘子样品进行电磁激励,产生的磁共振感应衰减信号经前置放大器、混频器和模数转换器依次处理后,由计算机完成正交相敏检波,得到磁共振信号的实部和虚部频响分量,进一步对信号进行拉普拉斯变换,得到被测样品的横向弛豫时间分布谱;通过观察和分析谱图上每一根特征谱线的高度、位置和覆盖面积等参量,并与标准数据进行对照,实现对绝缘子老化度的判断。
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