[发明专利]一种覆盖优化中问题区域的生成方法及装置有效
申请号: | 201310534606.9 | 申请日: | 2013-11-01 |
公开(公告)号: | CN104602271B | 公开(公告)日: | 2018-11-02 |
发明(设计)人: | 岳军;陶琳 | 申请(专利权)人: | 中国移动通信集团设计院有限公司 |
主分类号: | H04W24/02 | 分类号: | H04W24/02 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 许静;黄灿 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 覆盖 优化 问题 区域 生成 方法 装置 | ||
1.一种覆盖优化中问题区域的生成方法,其特征在于,包括:
获取覆盖优化中的采样点信息;
将所述采样点信息进行栅格汇总;
根据所述栅格汇总生成问题区域图层;
其中,所述根据所述栅格汇总生成问题区域图层的步骤包括:
筛选所述栅格汇总生成存在覆盖问题的栅格集;
将所述存在覆盖问题的栅格集进行分类合集,生成问题区域集;
对所述问题区域集中的每个问题区域中的栅格索引所确定的栅格区域范围进行区域外扩;
根据所述外扩的栅格索引生成栅格图层;
根据栅格索引值合并所述栅格图层生成问题区域图层;
其中,所述生成问题区域集的具体方法为:对于存在覆盖问题的栅格集,如果两个栅格中心间距小于或等于X个第一栅格精度,则判定这两个栅格属于同一个问题区域,其中,X为大于1的常数;
所述对所述问题区域集中的每个问题区域中的栅格索引所确定的栅格区域范围进行区域外扩的步骤具体为:
外扩后的归一化MGRS经度东偏置=归一化MGRS经度东偏置-((X-1)/2)*第一栅格精度-Y;
外扩后的归一化MGRS经度北偏置=归一化MGRS经度北偏置-((X-1)/2)*第一栅格精度-Y;
第二栅格精度=X*第一栅格精度+2*Y;
其中X为问题区域判定规则中的大于1的栅格边长数,Y的取值为大于0的常量。
2.根据权利要求1所述的覆盖优化中问题区域的生成方法,其特征在于,所述获取覆盖优化中的采样点信息的步骤具体为:从加载的扫频数据中获取所述采样点信息。
3.根据权利要求1所述的覆盖优化中问题区域的生成方法,其特征在于,所述栅格为东西、南北各跨越预设距离的三维球面区域。
4.根据权利要求1所述的覆盖优化中问题区域的生成方法,其特征在于,所述将所述采样点信息进行栅格汇总的具体步骤包括:
将所述采样点信息的经纬度换算成栅格索引;
对所述栅格索引相同的采样点进行栅格汇总。
5.根据权利要求4所述的覆盖优化中问题区域的生成方法,其特征在于,所述栅格索引格式为:UTM经度区编号+UTM纬度区编号+MGRS经度区编号+MGRS纬度区编号+归一化MGRS经度东偏置+归一化MGRS经度北偏置+第一栅格精度,其中,
归一化MGRS经度东偏置=int(MGRS经度东偏置/第一栅格精度);
归一化MGRS经度北偏置=int(MGRS经度北偏置/第一栅格精度)。
6.根据权利要求4所述的覆盖优化中问题区域的生成方法,其特征在于,所述栅格汇总是按照频率/基站识别码/扰码/外设互联标准将所述栅格索引相同的采样点包含的各信息进行平均栅格汇总。
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