[发明专利]一种触摸屏的检测方法有效

专利信息
申请号: 201310534829.5 申请日: 2013-10-31
公开(公告)号: CN103529999B 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 邓孜俊;刘伟高;王龙辉;刘扬;蔡伟佳 申请(专利权)人: 广州视睿电子科技有限公司
主分类号: G06F3/042 分类号: G06F3/042
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 王宝筠
地址: 510663 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 触摸屏 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及显示屏技术领域,更具体地说,涉及一种触摸屏的检测方法。

背景技术

本部分旨在为权利要求书中陈述的本发明的实施方式提供背景或上下文。此处的描述可包括可以探究的概念,但不一定是之前已经想到或者已经探究的概念。因此,除非在此指出,否则在本部分中描述的内容对于本申请的说明书和权利要求书而言不是现有技术,并且并不因为包括在本部分中就承认是现有技术。

一般情况下,触摸屏需要与显示装置配套使用,以实现人机交互操作,而且所述人机交互操作需要使得显示设备的显示出来的响应位置与操作者的实际触控位置相一致,即使得触摸屏的测试位置与显示设备的响应位置匹配。为了实现上述效果,保证触控显示的显示质量,在触摸屏研制开发阶段,需要一个位置校准的过程,使触摸屏的测试位置与显示设备的响应位置匹配。

在进行触摸屏校准时,首先需要对触摸屏进行单独测试,确定触摸屏的测试位置。在现有技术中,一般是根据触摸屏的嵌入式芯片采集的各个触控信号接收装置的触控数据进行人工的分析,以确定触摸屏的测试位置,工作效率低。

发明内容

为解决上述技术问题,本发明提供一种触摸屏的检测方法,所述检测方法能够快速高效率的测试触摸屏的测试位置。

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:

一种触摸屏的检测方法,所述检测方法包括:

对触摸屏预设参考位置进行触摸操作;

获取触摸屏的各个触控数据采集装置的触控数据,将所述触控数据转换为图像数据;

生成所述触摸屏的仿真图像,根据所述图像数据,在所述仿真图像上绘制出所述参考位置对应的测试位置的图像。

优选的,在上述检测方法中,当所述触摸屏为红外对管触摸屏时,所述获取触摸屏的各个触控数据采集装置的触控数据为:

逐一遍历所述红外对管触摸屏的每一个红外接收管,获取被遮挡的红外光线所在的红外接收管的物理地址以及红外发射管的物理地址。

优选的,在上述检测方法中,所述将所述触控数据转换为图像数据为:

在所述红外对管触摸屏所在平面的坐标系内,将每一个被遮挡的红外接收管的物理地址以及与该红外接收管相对应的红外发射管的物理地址转换为所述红外接收管以及红外发射管之间光线所在直线的图像数据。

优选的,在上述检测方法中,所述根据所述图像数据,在所述仿真图像上绘制出所述参考位置对应的测试位置的图像为:

根据所述直线的图像数据,在所述仿真图像上形成多条直线,根据所述多条直线相交位置确定所述参考位置对应的测试位置的图像,并将所述测试位置的图像在所述仿真图像中显示。

优选的,在上述检测方法中,当所述触摸屏为光学成像触摸屏时,所述获取触摸屏的各个触控数据采集装置的触控数据为:

逐一遍历所述光学成像触摸屏的各个摄像头,获取摄各个像头的配置信息;

根据所述配置信息确定各摄像头拍摄黑色区域在触摸屏内的两条边的位置;

根据所述两条边的位置获取所述黑色区域的起始角、结束角以及顶点位置。

优选的,在上述检测方法中,所述将所述触控数据转换为图像数据为:

在所述光学成像触摸屏所在平面的坐标系内,将每一个摄像头拍摄的黑色区域的起始角、结束角以及顶点位置转换为表示该黑色区域在触摸屏内的两条边所在直线的图像数据。

优选的,在上述检测方法中,所述根据所述图像数据,在所述仿真图像上绘制出所述参考位置对应的测试位置的图像为:

根据所述直线的图像数据,在触摸屏的仿真图像上形成多条直线,同一个摄像头的两条直线之间的区域为一个三角形区域,根据各个三角形区域的重叠区域确定所述参考位置对应的测试位置的图像,并将所述测试位置的图像在所述仿真图像中显示。

优选的,在上述检测方法中,所述图像数据为BMP格式或MJPEG格式。

从上述技术方案可以看出,本发明所提供的检测方法包括:对触摸屏预设参考位置进行触摸操作;获取触摸屏的各个触控数据采集装置的触控数据,将所述触控数据转换为图像数据;根据所述图像数据,在触摸屏的仿真图像上绘制出所述参考位置对应的测试位置的图像。所述检测方法可根据触控数据直接生成一幅触摸屏的仿真图像,该仿真图像包括有参考位置对应的测试位置的图像,这样在进行校准时,通过所述仿真图像可直观快速的确定出测试位置在触摸屏上的位置,提高了工作效率。另外,所述技术方案还可以在研究开发触摸屏的时候快速高效地找到触控数据与测试位置的关系,提高新型触摸屏的开发研制速度。

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