[发明专利]一种测定高纯纳米ITO粉末中铝、钙、铁含量的方法有效
申请号: | 201310535030.8 | 申请日: | 2013-11-01 |
公开(公告)号: | CN104597105A | 公开(公告)日: | 2015-05-06 |
发明(设计)人: | 墨淑敏 | 申请(专利权)人: | 北京有色金属研究总院 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;G01N1/28;G01N1/38;G01N1/44 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 刘徐红 |
地址: | 100088 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测定 高纯 纳米 ito 粉末 含量 方法 | ||
1.一种测定高纯纳米ITO粉末中铝、钙、铁含量的方法,包括以下步骤:
(1)称取ITO粉末样品,加入浓HCl和浓HNO3,采用微波消解处理ITO样品,加入Sc内标溶液,稀释后得到ITO样品溶液,随样做空白试验;
(2)将ITO样品溶液进行干过滤得到待测溶液;
(3)配制Al、Ca、Fe的系列标准溶液,其中Al、Ca、Fe的浓度均依次为0、20、40、60、80、100ng/mL,并且在各标准溶液中均加入等量的Sc内标溶液;
(4)选定电感耦合等离子体质谱仪的工作条件,选择27Al、40Ca、56Fe进行测定;按照浓度由低到高对系列标准溶液进行测定,从而得到铝、钙、铁的工作曲线;然后对空白溶液及ITO的待测溶液进行测定,分别得到空白及ITO待测溶液中27Al、40Ca、56Fe与内标Sc元素的信号强度比值YAl、YCa、YFe,带入工作曲线求得空白溶液中杂质元素浓度值及ITO样品待测溶液中杂质元素浓度值;
(5)根据步骤(4)得到的样品待测溶液中铝、钙、铁元素的浓度,通过计算得到ITO样品中铝、钙、铁的质量百分数。
2.根据权利要求1所述的测定ITO粉末中铝、钙、铁含量的方法,其特征在于:称取0.1g ITO样品,加入2mL浓HCl和1mL浓HNO3。
3.根据权利要求1所述的测定ITO粉末中铝、钙、铁含量的方法,其特征在于:所述的微波消解采用的温度控制程序如下:
第1步,用10min升温至120℃,保持10min;
第2步,再用10min升温至180℃,保持10min,
第3步,冷却到室温。
4.根据权利要求1所述的测定ITO粉末中铝、钙、铁含量的方法,其特征在于:所述的Sc内标溶液的浓度为1μg/mL,加入量为2mL。
5.根据权利要求1所述的测定ITO粉末中铝、钙、铁含量的方法,其特征在于:27Al在氩气模式下进行测定,40Ca和56Fe在氢气模式下测定。
6.根据权利要求1所述的测定ITO粉末中铝、钙、铁含量的方法,其特征在于:所述的铝、钙、铁的工作曲线为Yi=aXi+bi,其线性相关系数r大于0.9990,其中,Xi表示待测元素的浓度,Yi为待测元素与内标Sc元素的信号强度比值。
7.根据权利要求1所述的测定ITO粉末中铝、钙、铁含量的方法,其特征在于:所述的ITO样品中铝、钙、铁的质量百分数的计算公式为:
公式中ρ0表示空白溶液中杂质元素的浓度,单位ng/mL;ρ1表示待测溶液中杂质元素的浓度,单位ng/mL;V表示溶液体积,单位mL;m表示ITO样品质量,单位g。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京有色金属研究总院;,未经北京有色金属研究总院;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310535030.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种多探头磁记忆检测栅格
- 下一篇:一种修饰电极的制备方法