[发明专利]一种差压传感器强度补偿方法及装置有效
申请号: | 201310537523.5 | 申请日: | 2013-11-04 |
公开(公告)号: | CN103557986A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 胡浩;钟丽琼;周潜;张大斌;曹阳 | 申请(专利权)人: | 贵州大学 |
主分类号: | G01L13/00 | 分类号: | G01L13/00 |
代理公司: | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人: | 李亮;程新敏 |
地址: | 550025 贵州省贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 种差 传感器 强度 补偿 方法 装置 | ||
1.一种差压传感器强度补偿方法,其特征在于:采用两个光源交替发光,采用两个结构完全相同的检测探头进行检测,通过Y型耦合器耦合或分离光路,然后通过计算两个检测探头的所受压力值与参考光路的比值并进行数学运算从而消除光源波动产生的误差。
2.根据权利要求1所述的差压传感器强度补偿方法,其特征在于:所述两个光源通过继电器实现交替等时发光。
3.根据权利要求2所述的差压传感器强度补偿方法,其特征在于按如下步骤进行:
1)传感器采用两个光源交替发光,其中一个光源发光时,光波首先耦合进入到一根入射光纤,再经一分二的Y型耦合器,分为功率相等的两路光波,一路经参考光路直接到达一个光电探测器,经此探测器转换为电压信号输出,此电压信号的大小即反映了光源输出功率一半的大小;另一路经检测光路到达检测探头一,经弹性膜片反射后,又经接收光纤到达另一个光电探测器,经此探测器转换为电压信号输出,此电压信号的大小即反映了光源输出功率的另一半,经反射后接收到的光功率大小;
2)再计算这两个输出电压的比值,这一比值大小就与光源的功率变化无关,通过这个比值来反映检测探头一所受压力的大小,就能消除光源波动产生的误差;
3)另外一个光源发光时,重复上述过程,通过比值来反映检测探头二处压力的大小;再通过计算检测探头一、检测探头二输出的比值之差,或者比值之比;最终反映出两探头之间的压力差值。
4.根据权利要求3所述的差压传感器强度补偿方法,其特征在于:光路采用光桥式的布局形式,使两光源的参考光路经Y型耦合器到达同一个光电探测器,两检测探头的反射光接收光路经Y型耦合器到达另一个光电探测器。
5.一种差压传感器强度补偿装置,包括分别用于检测被测物一(31)和被测物二(32)所传递的压力的差压传感器探头一(11)和探头二(12),以及用于传输光信号的光纤束(4),其特征在于:它设有两个可交替发光的光源,光源一(51)和光源二(52),两个光电探测器,光电探测器一(21)和光电探测器二(22),光电探测器一(21)和光电探测器二(22)分别设有信号处理器一(71)和信号处理器二(72);它还设有四个用于耦合或拆分的Y型耦合器,即耦合器一(61)、耦合器二(62)、耦合器三(63)、耦合器四(64)。
6.根据权利要求5所述的差压传感器强度补偿装置,其特征在于:所述光源一(51)和光源二(52)发出的光分别通过耦合器一(61)和耦合器三(63)分为两路,一路分别进入探头一(11)和探头二(12),另一路则进入光电探测器二(22)成为参考光路。
7.根据权利要求6所述的差压传感器强度补偿装置,其特征在于:探头一(11)和探头二(12)反射的光信号分别通过耦合器二(62)和耦合器(64)从光线束(4)中拆分出反射光纤(41)后进入光电探测器一(21)成为检测光路。
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