[发明专利]一种标准单元及其建立、使用方法

权利要求书

1.一种标准单元的建立方法，其特征在于，包括，

建立符合预定要求的器件参数值条件下的初始标准单元物理版图；建立对物理版图的几何尺寸值进行微调的程序；建立描述物理版图的几何尺寸值与所述物理版图电路性能值的关系函数；建立根据物理版图的电路性能值求解物理版图中几何尺寸值的程序；

所述器件参数值包括物理版图中的几何尺寸值。

2.根据权利要求1所述的建立方法，其特征在于，所述建立描述物理版图的几何尺寸值与所述物理版图的电路性能值的关系函数，具体包括，

确定所述物理版图内的每个器件的几何尺寸值取值点；

组合所述物理版图内的各个器件的所述几何尺寸值取值点，构成若干个几何尺寸值取值点组，所有所述几何尺寸值取值点组构成第一几何尺寸值取值点集合，所述几何尺寸值取值点组包含所述物理版图内每个器件的一个所述几何尺寸值取值点；

根据所述第一几何尺寸值取值点集合内的几何尺寸值取值点组，对所述初始标准单元物理版图的几何尺寸进行微调，得到新标准单元物理版图；

获取每一个所述新标准单元物理版图的电路性能值，构成第一物理版图电路性能值集合；所述第一几何尺寸值取值点集合内的几何尺寸值取值点组与所述第一物理版图电路性能值集合内的电路性能值存在第一对应关系；

根据所述第一对应关系，采用插值方法，获取不被所述第一几何尺寸值取值点集合所包含的几何尺寸值取值点组对应的电路性能值；

根据所述第一对应关系和所述采用插值方法获取的不被所述第一几何尺寸值取值点集合所包含的几何尺寸值取值点组对应的电路性能值，建立描述物理版图的几何尺寸值与所述物理版图的电路性能值的关系函数。

3.根据权利要求2所述的建立方法，其特征在于，所述几何尺寸值包括栅宽值和/或栅长值，设定所述初始标准单元内每一器件的栅宽值变化范围及相邻变化点之间的最小栅宽值变化量ΔW_min，和/或，设定所述初始标准单元内每一器件的栅长值变化范围及相邻变化点之间的最小栅长值变化量ΔL_min，所述确定所述物理版图内的每个器件的几何尺寸值取值点，包括，

根据物理版图内的每一器件的所述栅宽值变化范围及相邻变化点之间的最小栅宽值变化量ΔW_min确定与所述器件相对应的栅宽值取值点，和/或，根据物理版图内每一器件所述栅长值变化范围及相邻变化点之间的最小栅长值变化量ΔL_min确定与所述器件相对应的栅长值取值点；

组合每一器件的所述栅宽值取值点和/或所述栅长值取值点，确定与所述物理版图内的每个器件的几何尺寸值取值点。

4.根据权利要求2或3所述的建立方法，其特征在于，所述获取每一个所述新标准单元物理版图的电路性能值，包括，

获取所述新标准单元物理版图的包含寄生参数的网表；

根据所述包含寄生参数的网表，获取所述新标准单元物理版图的电路性能值。

5.根据权利要求2或3所述的建立方法，其特征在于，设定不被所述第一几何尺寸值取值点集合所包含的几何尺寸值取值点组为第一预定几何尺寸值取值点组，所述根据所述第一对应关系，采用插值方法，获取不被所述第一几何尺寸值取值点集合所包含的几何尺寸值取值点组对应的电路性能值，包括，

从所述第一几何尺寸值取值点集合中查找与所述第一预定几何尺寸值取值点组临近的第一几何尺寸值取值点集合的子集，所述第一几何尺寸值取值点集合的子集中的几何尺寸值取值点组对应的电路性能值构成所述第一物理版图电路性能值集合的子集，所述几何尺寸值取值点组的子集中的几何尺寸值取值点组与所述第一物理版图电路性能值集合的子集中的电路性能值存在第二对应关系；

根据所述第二对应关系，采用插值方法，获取所述第一预定几何尺寸值取值点组对应的第一预定电路性能值。