[发明专利]一种可逆检测次氯酸根和硫化氢的方法

权利要求书

1.一种可逆检测次氯酸根和硫化氢的方法，包括下述步骤：

①将已知次氯酸根浓度标准样品和发光探针分子溶于缓冲溶液中，测定体系发光强度，建立次氯酸根浓度与发光探针分子发光强度关系；

②将已知硫化氢浓度标准样品加入步骤①所得被氧化的发光探针分子缓冲溶液中，测定体系发光强度，建立硫化氢浓度与发光探针分子发光强度关系；

③将待测次氯酸根样品和发光探针分子溶于缓冲溶液中，测定体系发光强度，根据步骤①所得次氯酸根浓度与体系发光强度关系，确定待测次氯酸根样品中次氯酸根的浓度；

④将待测硫化氢样品加入步骤③所得溶液中，测定体系发光强度，根据步骤②所得硫化氢浓度与体系发光强度关系，确定待测硫化氢样品中硫化氢的浓度，

其中，所述发光探针分子为具有通式I结构的金属配合物：

(L₁L₂)M-L₃Y₃

I

式I中，M为Ru或Os；

Y为卤素离子、ClO₄^-、BF₄^-、PF₆^-或OTs^-；

L₁和L₂各自独立地选自如下配体：

其中，R₁和R₂各自独立地选自H、C_1-18烷基、CHO、COOH、NH₂、C_1-6烷基氨基、OH、SH、C_1-6烷氧基、C_1-6酰胺基、C_1-6烷基取代或未取代的苄基、卤素或C_1-6卤代烷基；

L₃选自如下配体：

其中，R₃为H、CH₃或R₄；

R₄选自具有通式PTZ₁、PTZ₂或PTZ₃的基团，

式中：n=1～18，m=0～18

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述L₁和L₂各自独立地选自如下配体：

其中，R₁和R₂各自独立地选自H和C_1-6烷基。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于：所述L₃选自如下配体：

其中，R₃为H或CH₃；R₄选自具有通式PTZ₂或PTZ₃的基团，式中，m=0，n=2～6。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述发光探针分子选自下述金属配合物中的一种：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述发光探针分子发光强度按下述方法确定：对溶液进行发光光谱扫描，激发光波长为450nm，发射波长扫描范围为470nm～700nm。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述发光探针分子在缓冲溶液中的浓度为1×10^-5mol/L。