[发明专利]用于分析样本和收集样本流份的方法和装置无效

专利信息
申请号: 201310539914.0 申请日: 2008-12-04
公开(公告)号: CN103630641A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: J.M.小安德森;R.萨里-诺尔豪斯;W.门多扎;J.P.拜斯特伦;D.赫尔格莫;B.D.布莱克;N.R.皮查;D.K.麦克里里;S.奈尔逊;C.H.波普 申请(专利权)人: 全技术联合公司
主分类号: G01N30/62 分类号: G01N30/62;G01N30/82
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王忠忠
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 分析 样本 收集 方法 装置
【权利要求书】:

1. 一种在层析系统中在层析运行期间检测并收集样本流中的一个或更多样本成分的方法,所述方法包括:

在层析运行期间从包括至少一个蒸发粒子检测器的至少一个破坏性检测器产生第一信号,以便在层析运行期间产生响应值;

在层析运行期间从至少一个无损检测器产生第二信号,以便在层析运行期间产生响应值,      

其中,所述至少一个破坏性检测器允许在一种或多种发色的溶剂的存在的情况下所述一个或更多样本成分的响应值的正面检测,从而消除所述无损检测器对所述一个或更多样本成分的响应值的正面检测;以及

响应于在所述层析运行期间所述信号的至少一个的改变,在所述层析期间在馏分收集器中从样本流收集所述一个或更多成分。

2. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,每个信号包括:

(i)在给定的时间,各个产生检测器的检测器响应值,

(ii)在给定的时间,所述检测器响应值的一阶导数,

(iii)在给定的时间,所述检测器响应值的二阶导数;或

(iv)(i)到(iii)的任意组合。

3. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法包括至少一个破坏性检测器,其选自由下述器件组成的组中:蒸发光散射检测器(ELSD)、质谱仪(MS)、集成核光散射检测器(CNLSD)、以及电晕放电检测器。

4. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法包括至少一个无损检测器,其选自由下述器件组成的组中:光吸收检测器、折光率检测器(RID)、荧光检测器(FD)、手性检测器(CD)、以及传导性检测器。

5. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述无损检测器包括至少一个光吸收检测器。

6. 如权利要求5所述的方法,其特征在于,所述光吸收检测器观测两个或更多光波长,以便产生两个或更多检测器响应值。

7. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,蒸发粒子检测器包括蒸发光散射检测器。

8. 如权利要求1所述的方法,其特征在于,蒸发粒子检测器包括蒸发光散射检测器,而无损检测器包括至少一个光吸收检测器。

9. 如权利要求1所述的方法,其特征在于进一步包括:

主动地控制通过分流泵流到所述至少一个破坏性检测器的流体流;

选择滑阀;或者

分流泵和选择滑阀的组合,

其中,分流泵、选择滑阀或其组合都与所述至少一个破坏性检测器流体连通。

10. 如权利要求9所述的方法,其特征在于,主动地控制步骤包括以每10秒至少一个等分的频率将一个等分移动到所述破坏性检测器。

11. 在其上存储了计算机可执行的指令的非暂时性计算机可读媒介,该指令用于执行权利要求1所述的方法。

12. 一种装置,用于使用权利要求1所述的方法来检测样本。

13. 一种层析装置,用于在层析运行期间检测并收集样本流中的一个或更多成分,所述装置包括:

包括至少一个蒸发粒子检测器的至少一个破坏性检测器,用于在层析运行期间产生响应值;

至少一个无损检测器,用于在层析运行期间产生响应值,

其中,所述至少一个破坏性检测器允许在一种或多种发色的溶剂的存在的情况下所述一个或更多样本成分的响应值的正面检测,从而消除所述无损检测器对所述一个或更多样本成分的响应值的正面检测;

处理器,用于接收所述响应值并用于根据从所述破坏性检测器接收的响应值产生第一信号并用于根据从所述无损检测器接收的多个响应值产生第二信号;以及

馏分收集器,用来响应于在所述层析运行期间所述信号的至少一个的改变,收集对应于所述成分之一的至少一个馏分。

14. 如权利要求13所述的装置,其特征在于,所述信号包括:

(i)在给定的时间,各个产生检测器的检测器响应值,

(ii)在给定的时间,所述检测器响应值的一阶导数,

(iii)在给定的时间,所述检测器响应值的二阶导数;或

(iv)(i)到(iii)的任意组合。

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