[发明专利]阵列基板的制作方法有效
申请号: | 201310542331.3 | 申请日: | 2013-11-05 |
公开(公告)号: | CN103560088A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 张立;闫梁臣;刘凤娟 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/77 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种阵列基板的制作方法。
背景技术
显示器的阵列基板是由不同的层结构组成,其中,绝缘层上往往会制作一些通孔以使被绝缘层隔开的导电部分相连通。
然而,由于每层绝缘层上的通孔都需要使用单独的构图工艺进行制作,并且阵列基板上往往包括多个绝缘层,因此通孔制作过程较为复杂。
发明内容
本发明提供一种阵列基板的制作方法,简化了绝缘层通孔的制作过程。
为解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:
提供一种阵列基板的制作方法,包括:
在基板上沉积金属层;
在包括所述金属层的基板上涂布光刻胶;
对金属层刻蚀区域的光刻胶进行完全曝光并显影,使所述金属层刻蚀区域的光刻胶被去除,绝缘层通孔区域为不进行曝光的区域,对所述绝缘层通孔区域之外的光刻胶进行半曝光并显影,使所述绝缘层通孔区域之外的光刻胶厚度变薄;
对所述金属层刻蚀区域的金属层进行刻蚀;
对所述金属层刻蚀区域之外的光刻胶进行灰化,使所述金属层刻蚀区域和绝缘层通孔区域之外的光刻胶被去除,使所述绝缘层通孔区域的光刻胶厚度变薄;
在包括所述绝缘层通孔区域光刻胶的基板上沉积绝缘层;
剥离所述绝缘层通孔区域的光刻胶,形成绝缘层通孔。
可选地,所述金属层为源漏金属层,所述绝缘层为钝化层,所述绝缘层通孔区域为钝化层通孔区域;
所述对所述金属层刻蚀区域的金属层进行刻蚀的过程为:
对所述源漏金属层刻蚀区域的源漏金属层进行刻蚀,形成包括数据线和TFT源漏极的图案,所述钝化层通孔区域位于所述TFT的漏极处;
在所述形成绝缘层通孔之后,还包括:
在包括所述绝缘层通孔的基板上形成透明电极,使所述透明电极通过所述绝缘层通孔与所述TFT的漏极连接。
可选地,所述金属层为栅极金属层,所述绝缘层为栅极绝缘层;
所述对所述金属层刻蚀区域的金属层进行刻蚀的过程为:
对所述栅极金属层刻蚀区域的栅极金属层进行刻蚀,形成包括栅线、开关TFT栅极和驱动TFT栅极的图案,所述绝缘层通孔区域位于所述驱动TFT的栅极处;
在所述剥离所述绝缘层通孔区域的光刻胶,形成绝缘层通孔的过程之前,还包括:
在包括所述绝缘层的基板上形成有源层;
在所述剥离所述绝缘层通孔区域的光刻胶,形成绝缘层通孔的过程之后,还包括:
在包括所述绝缘层通孔的基板上沉积源漏金属层,使所述开关TFT的漏极通过所述绝缘层通孔与所述驱动TFT的栅极连接。
具体地,在所述包括所述绝缘层通孔的基板上沉积源漏金属层的过程之后,还包括:
在包括所述源漏金属层的基板上涂布光刻胶;
对源漏金属层刻蚀区域的光刻胶进行完全曝光并显影,使所述源漏金属层刻蚀区域的光刻胶被去除,钝化层通孔区域为不进行曝光的区域,对所述钝化层通孔区域之外的光刻胶进行半曝光并显影,使所述钝化层通孔区域之外的光刻胶厚度变薄;
对所述源漏金属层刻蚀区域的源漏金属层进行刻蚀,形成包括数据线、开关TFT源漏极和驱动TFT源漏极的图案,所述钝化层通孔区域位于所述驱动TFT的漏极处;
对所述源漏金属层刻蚀区域之外的光刻胶进行灰化,使所述源漏金属层刻蚀区域和钝化层通孔区域之外的光刻胶被去除,使所述钝化层通孔区域的光刻胶厚度变薄;
在包括所述钝化层通孔区域光刻胶的基板上沉积钝化层,剥离所述钝化层通孔区域的光刻胶,形成钝化层通孔。
具体地,在所述形成钝化层通孔之后,还包括:
在包括所述钝化层通孔的基板上形成透明电极,所述透明电极通过所述钝化层通孔与所述驱动TFT的漏极连接。
具体地,所述半曝光为半色调曝光或灰度色调曝光。
具体地,所述灰化为O2等离子体灰化。
本发明提供的阵列基板的制作方法,通过半曝光工艺使作为金属层掩模板的光刻胶在通孔区域保留,在沉积绝缘层之后,剥离通孔区域的光刻胶,此时通孔区域的绝缘层被同时剥离,因此无需单独的构图工艺来制作通孔,简化了绝缘层通孔的制作过程,避免了较多的曝光和干刻处理工序对器件均匀性和稳定性的影响。
附图说明
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310542331.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种CCD专用三电平驱动电路
- 下一篇:移动感应开关
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造