[发明专利]阵列基板的制作方法有效

专利信息
申请号: 201310542331.3 申请日: 2013-11-05
公开(公告)号: CN103560088A 公开(公告)日: 2014-02-05
发明(设计)人: 张立;闫梁臣;刘凤娟 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/77
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 阵列 制作方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种阵列基板的制作方法。

背景技术

显示器的阵列基板是由不同的层结构组成,其中,绝缘层上往往会制作一些通孔以使被绝缘层隔开的导电部分相连通。

然而,由于每层绝缘层上的通孔都需要使用单独的构图工艺进行制作,并且阵列基板上往往包括多个绝缘层,因此通孔制作过程较为复杂。

发明内容

本发明提供一种阵列基板的制作方法,简化了绝缘层通孔的制作过程。

为解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:

提供一种阵列基板的制作方法,包括:

在基板上沉积金属层;

在包括所述金属层的基板上涂布光刻胶;

对金属层刻蚀区域的光刻胶进行完全曝光并显影,使所述金属层刻蚀区域的光刻胶被去除,绝缘层通孔区域为不进行曝光的区域,对所述绝缘层通孔区域之外的光刻胶进行半曝光并显影,使所述绝缘层通孔区域之外的光刻胶厚度变薄;

对所述金属层刻蚀区域的金属层进行刻蚀;

对所述金属层刻蚀区域之外的光刻胶进行灰化,使所述金属层刻蚀区域和绝缘层通孔区域之外的光刻胶被去除,使所述绝缘层通孔区域的光刻胶厚度变薄;

在包括所述绝缘层通孔区域光刻胶的基板上沉积绝缘层;

剥离所述绝缘层通孔区域的光刻胶,形成绝缘层通孔。

可选地,所述金属层为源漏金属层,所述绝缘层为钝化层,所述绝缘层通孔区域为钝化层通孔区域;

所述对所述金属层刻蚀区域的金属层进行刻蚀的过程为:

对所述源漏金属层刻蚀区域的源漏金属层进行刻蚀,形成包括数据线和TFT源漏极的图案,所述钝化层通孔区域位于所述TFT的漏极处;

在所述形成绝缘层通孔之后,还包括:

在包括所述绝缘层通孔的基板上形成透明电极,使所述透明电极通过所述绝缘层通孔与所述TFT的漏极连接。

可选地,所述金属层为栅极金属层,所述绝缘层为栅极绝缘层;

所述对所述金属层刻蚀区域的金属层进行刻蚀的过程为:

对所述栅极金属层刻蚀区域的栅极金属层进行刻蚀,形成包括栅线、开关TFT栅极和驱动TFT栅极的图案,所述绝缘层通孔区域位于所述驱动TFT的栅极处;

在所述剥离所述绝缘层通孔区域的光刻胶,形成绝缘层通孔的过程之前,还包括:

在包括所述绝缘层的基板上形成有源层;

在所述剥离所述绝缘层通孔区域的光刻胶,形成绝缘层通孔的过程之后,还包括:

在包括所述绝缘层通孔的基板上沉积源漏金属层,使所述开关TFT的漏极通过所述绝缘层通孔与所述驱动TFT的栅极连接。

具体地,在所述包括所述绝缘层通孔的基板上沉积源漏金属层的过程之后,还包括:

在包括所述源漏金属层的基板上涂布光刻胶;

对源漏金属层刻蚀区域的光刻胶进行完全曝光并显影,使所述源漏金属层刻蚀区域的光刻胶被去除,钝化层通孔区域为不进行曝光的区域,对所述钝化层通孔区域之外的光刻胶进行半曝光并显影,使所述钝化层通孔区域之外的光刻胶厚度变薄;

对所述源漏金属层刻蚀区域的源漏金属层进行刻蚀,形成包括数据线、开关TFT源漏极和驱动TFT源漏极的图案,所述钝化层通孔区域位于所述驱动TFT的漏极处;

对所述源漏金属层刻蚀区域之外的光刻胶进行灰化,使所述源漏金属层刻蚀区域和钝化层通孔区域之外的光刻胶被去除,使所述钝化层通孔区域的光刻胶厚度变薄;

在包括所述钝化层通孔区域光刻胶的基板上沉积钝化层,剥离所述钝化层通孔区域的光刻胶,形成钝化层通孔。

具体地,在所述形成钝化层通孔之后,还包括:

在包括所述钝化层通孔的基板上形成透明电极,所述透明电极通过所述钝化层通孔与所述驱动TFT的漏极连接。

具体地,所述半曝光为半色调曝光或灰度色调曝光。

具体地,所述灰化为O2等离子体灰化。

本发明提供的阵列基板的制作方法,通过半曝光工艺使作为金属层掩模板的光刻胶在通孔区域保留,在沉积绝缘层之后,剥离通孔区域的光刻胶,此时通孔区域的绝缘层被同时剥离,因此无需单独的构图工艺来制作通孔,简化了绝缘层通孔的制作过程,避免了较多的曝光和干刻处理工序对器件均匀性和稳定性的影响。

附图说明

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