[发明专利]存储器维修装置及其应用方法有效
申请号: | 201310543132.4 | 申请日: | 2013-11-05 |
公开(公告)号: | CN104051025A | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | 洪硕男;罗棋;洪俊雄 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/44 | 分类号: | G11C29/44 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 维修 装置 及其 应用 方法 | ||
技术领域
本发明是有关存储器维修技术领域,特别是指以备援行替换有瑕疵的存储器阵列行的集成电路及其应用方法,该集成电路即是存储器维修装置。
背景技术
一存储器阵列当中的备援行可提升一存储器集成电路的制造产量。存储器阵列中的瑕疵可被修复,比如透过处理行地址以备援行替换有瑕疵的存储器阵列行。
存储器阵列中的瑕疵并不限于存储器阵列当中的同一行。解决存储器阵列不同行中的瑕疵的一个方法是增加备援行的数量。如此一来,就算是存储器阵列不同行中的瑕疵也可透过以备援行替换修复。不幸的,这是一个非常昂贵的解决方法,因为增加备援行会消耗面积。
另一种解决存储器阵列不同行中的瑕疵的方式是把存储器阵列行划分为多个区段或是列区块。只要瑕疵在不同列区块当中,存储器阵列中不同行中的瑕疵可被同一备援行修复。美国专利申请号为12/893235描述了一个实施例。
虽然说把行划分为多个列区块可提升备援行的面积效率,所述多个列区块会使验证如编程或擦除的存储器操作更复杂。如果存储器阵列当中某行的一列区块已经被备援行列区块替换,验证此被替换的列区块是不合理的。因此,维修状态存储器中的每行可以指出特定存储器行需不需要被验证。维修状态存储器会随着划分行成多个列区块的细度而增加。
因此,同时保有把行划分为多个列区块以提升备援行的面积效率又能减轻因验证过程而需要存储更大量维修状态数据所产生的面积损失是一个重要的课题。
发明内容
本发明技术的一个面向为一个集成电路,而该集成电路包括一被配置成多个列(rows),多个主要行(main columns)的存储器单元阵列,以及一组在该阵列中执行修补工作的的备援行。
所述多个主行以及所述组备援行被划分成列区块。主要行其中一特定列区块可被备援行其中的该特定列区块修复。
集成电路同时也包括状态存储器以及控制电路。位线耦接主要行至一用以显示已被所述组备援行修复的多个修复行的维修状态的存储器。控制电路在集成电路收到指令时会针对该多个主要行中的子集(subset)列区块的维修状态以更新维修状态存储器。
因此,所述更新包括少于该多个主要行中的所有列区块的维修状态。在本发明某些实施例当中,更新当中的多个维修状态排除指令所存取的一部分存储器之外的一些特定列区块。在这些实施例当中,指令决定更新的范围。
在本发明某些实施例当中,维修装态指出在指令所存取的一部分存储器的具有多个修补部位的主要行当中被修复的主要行。该被维修的主要行包括被备援行的多个列区块所替换的多个列区块。在本发明某些实施例当中,控制电路为响应维修状态会从针对指令的一存储器验证程序的结果当中排除被修复的主要行。存储器验证程序因此会排除有修复行的主要行;例如,当指令所存取的列区块含有被备援行列区块所维修的修补部位。
在本发明某些实施例当中,控制电路会在超过一供应电压范围的存储器操作电压的设置时间时做出至少一部分的更新。此动作会缓颊更新所导致的存储器延迟现象。
本发明技术的另一个面向也是一个集成电路,而该集成电路包括一被配置成多个列,多个主要行的存储器单元阵列,一组维修阵列的备援行以及多个位线。位线耦接主要行至用以显示主要行维修状态的存储器。维修状态存储器没有足够的容量储存主要行的多个列区块的维修状态。
在本发明某些实施例当中,任何一组的备援行的列区块可修复该多个主要行中不同的主要行。在本发明某些实施例当中,维修状态存储器不包括集成电路所接收的指令所存取的一部分存储器之外的列区块的维修状态。
在本发明某些实施例当中,维修装态指出在集成电路所接收的指令所存取的一部分存储器的具有多个修补部位的主要行当中被修复的主要行。
在本发明某些实施例当中,维修装态指出在集成电路所接收的指令所存取的一部分存储器的具有多个修补部位的主要行当中被修复的主要行。集成电路更包括为响应维修状态会从针对指令的一存储器验证程序的结果当中排除被修复的主要行的控制电路。
在本发明某些实施例更包括一更新维修状态存储器的控制电路,该维修状态存储器的维修装态指出在集成电路所接收的指令所存取的一部分存储器的一些特定列区块的维修状态。至少一部分的更新会在超过一供应电压范围的存储器操作电压的设置时间时执行。
本发明技术的其他面向包括本文所描述的方法。
附图说明
图1为一具有一个或多个用以修复具有瑕疵的不同列区块的备援行的存储器阵列的简单图式。
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