[发明专利]一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法及装置有效
申请号: | 201310550178.9 | 申请日: | 2013-11-08 |
公开(公告)号: | CN103676231A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 戴叶;康志聪 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙) 44238 | 代理人: | 潘中毅;熊贤卿 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 测量 液晶 模组 flicker 闪烁 方法 装置 | ||
1.一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法,其特征在于,包括如下步骤:
给待测液晶模组提供Flicker画面;
利用一测量头扫描所述液晶模组,将所述液晶模组的亮度转换成电压信号,获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号;
接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号,并转换成数字亮度波形信号;
对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换,获得特定频率波的幅值;
通过所述特定频率波的幅值,获得所述液晶模组的Flicker闪烁值。
2.如权利要求1所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法,其特征在于,所述利用一测量头扫描所述液晶模组,将所述液晶模组的度转换成电压信号,获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号的步骤包括:
利用至少一个光电二极管获得所述液晶模组的亮度信号;
利用放大电路对所述亮度信号进行放大;
将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值,获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号。
3.如权利要求1所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法,其特征在于,所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
4.如权利要求3所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法,其特征在于,所述通过所述特定频率波的幅值,获得所述液晶模组的Flicker闪烁值的步骤具体为:
通过下述公式计算所述液晶模组的Flicker闪烁值:
其中,Flic为所述液晶模组的Flicker闪烁值,V@(30Hz/60Hz)为当前公共电极信号的切换频率波的幅值,V@(0Hz)为平均幅值。
5.如权利要求1-4任一项所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的方法,其特征在于,进一步包括:
根据所述计算出来的液晶模组的Flicker闪烁值,向所述液晶模组发送参数调节命令,以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数,以使所述液晶模组的Flicker闪烁值符合预定目标。
6.一种用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置,其特征在于,包括:
测量头,用于扫描提供有Flicker画面的待测液晶模组,将所述液晶模组的亮度转换成电压信号,获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号;
模数转换装置,接收所述测量头输出的模拟亮度波形信号,并转换成数字亮度波形信号;
傅里叶变换装置,对所述数字亮度波形信号进行傅里叶变换,获得特定频率波的幅值;
计算装置,用于根据所述傅里叶变换装置获得的所述特定频率波的幅值,计算获得所述液晶模组的Flicker闪烁值。
7.如权利要求6所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置,其特征在于,所述测量头进一步包括:
至少一个光电二极管,用于获得所述液晶模组的亮度信号;
放大电路,与所述至少一个光电二极管电连接,用于对所述至少一个光电二极管所获得的亮度信号进行放大;
测量子单元,用于将所述至少一个放大后的亮度信号取平均值,获得所述液晶模组的模拟亮度波形信号。
8.如权利要求7所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置,其特征在于,所述特定频率为所述液晶模组当前公共电极信号的切换频率。
9.如权利要求8所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置,其特征在于,所述测量处理装置通过下述公式计算所述液晶模组的Flicker闪烁值:
其中,Flic为所述液晶模组的Flicker闪烁值,V@(30Hz/60Hz)为当前公共电极信号的切换频率波的幅值,V@(0Hz)为平均幅值。
10.如权利要求6-9任一项所述的用于测量液晶模组Flicker闪烁值的装置,其特征在于,进一步包括:
Flicker画面提供装置44,用于向液晶模组1提供Flicker画面;或/以及
参数调整装置,用于根据所述计算出来的液晶模组的Flicker闪烁值,向所述液晶模组发送参数调节命令,以调节所述液晶模组当前公共电极信号的参数,以使所述液晶模组的Flicker闪烁值符合预定目标。
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