[发明专利]微扫描时空分辨测量系统有效
申请号: | 201310556482.4 | 申请日: | 2013-11-11 |
公开(公告)号: | CN103560066A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 曹柱荣;邓博 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | H01J31/50 | 分类号: | H01J31/50 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 杨元焱 |
地址: | 621900 四川省绵*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扫描 时空 分辨 测量 系统 | ||
技术领域
本发明涉及超高速成像技术中的门控分幅技术,尤其涉及一种微扫描时空分辨测量系统。
背景技术
超高速成像是人类探索未知世界的重要工具。某种程度上,成像技术水平可以决定物理认识的层次。在同一系统下实现高时间分辨和高空间分辨的多维度照相方法,可以为探索超快物理过程、等离子体物理演化、天体演化、生物动力学研究等领域提供关键的实验观测手段。当前超高速成像技术中,主要有两种技术实现途径:一种是条纹扫描技术,这种技术能够实现一维时间分辨和一维空间分辨;另一种是门控分幅技术,它是目前能够提供二维空间分辨,同时能够实现时间分辨的唯一技术手段。
门控分幅技术的原理是通过电脉冲选通阴极微带线,实现X光的门控照相,之后通过像增强器电子增益获得足够亮度的瞬态图像。因为既具有时间分辨能力,又可实现二维成像,在激光聚变、等离子体物理、快点火以及天体物理中获得广泛应用。但是在成像过程中,由X光辐照微带线产生的光电子在电场的作用下,撞击像增强器的微管内壁产生二次电子,二次电子有一定的发射角,在通过微孔时,不同发射角的二次电子运行轨迹不同,因而渡越时间也不同,这种渡越时间的弥散大幅降低了时间分辨,制约了门控分幅技术的应用。
发明内容
本发明的目的,就是为了克服现有门控分幅技术在空间分辨方面的缺点,提供一种微扫描时空分辨测量系统。
为了达到上述目的,本发明采用了以下技术方案:一种微扫描时空分辨测量系统,用于X射线源的高时空分辨二维图像测量,包括高压电源和选通脉冲发生器,还包括微扫描变像管,该微扫描变像管包括圆盘形法兰、同轴连接器、PCB基板、荧光屏、无增益微通道板、阴极微带线、外置增强器和可见光CCD;同轴连接器安装在圆盘形法兰上;PCB基板紧贴并固定于圆盘形法兰的外端面;荧光屏夹持于圆盘形法兰的中心开口内;无增益微通道板夹持于PCB基板的中心开口内,其外表面与PCB基板的外表面齐平;阴极微带线镀制于无增益微通道板和PCB基板的外表面,其终端与同轴连接器连接;外置增强器紧贴荧光屏的内侧面放置;可见光CCD紧贴外置增强器的内侧面放置。
所述高压电源为脉冲高压电源,输出脉冲波形为方波。
所述的选通脉冲发生器输出的选通脉冲为斜坡高压脉冲。
所述的无增益微通道板整体呈圆形,其中的各微管的开口形状为方形。
所述的阴极微带线等间距的镀制于PCB基板和无增益微通道板的外表面。
所述荧光屏与无增益微通道板之间设有0.2mm-1mm的间距。
所述荧光屏与无增益微通道板之间设有0.6mm的间距。
与现有技术相比,本发明具有以下的优点和特点:
1.本发明的测量系统使用无增益微通道板对光电子进行选通,出射的光电子渡越时间小,能够大幅提升系统的时间分辨,同时出射光电子的发散角小,能够提升系统的空间分辨。
2.采用本发明的测量系统,光电子经历斜坡电压加速后具有较高的能量,由此可以很好的与噪声区别,获得良好信噪比输出和高的动态范围。
3.采用本发明的测量系统,斜坡高压脉冲在阴极微带线上传输的损耗小,信号响应的一致性好。
附图说明
图1为本发明微扫描时空分辨测量系统中的微扫描变像管的结构示意图。
图2为图1中的柔性PCB板、无增益微通道板和阴极微带线的组合示意图。
图3为单个微管的扫描原理图。
图4为斜坡高压脉冲的波形前沿示意图。
图中所示,1为PCB基板,2为阴极微带线,3为无增益微通道板,4为荧光屏,5为外置增强器,6为可见光CCD,7为圆盘形法兰,8为同轴连接器,9为斜坡高压脉冲,10为微管,11为方波脉冲。
具体实施方式
参见图1,配合参见图2、图3、图4,本发明的微扫描时空分辨测量系统,其工作能段为0.1keV-10keV。该测量系统包括高压电源、选通脉冲发生器和微扫描变像管。其中,微扫描变像管的结构示意图如1所示,包括PCB基板1、阴极微带线2、无增益微通道板3、荧光屏4、外置增强器5、可见光CCD6、圆盘形法兰7和同轴连接器8。
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