[发明专利]探针补点系统及方法在审

专利信息
申请号: 201310559452.9 申请日: 2013-11-12
公开(公告)号: CN104634242A 公开(公告)日: 2015-05-20
发明(设计)人: 张旨光;吴新元;杨宗涛 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01C11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 探针 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及影像检测领域,尤其涉及一种利用探针对产品的点云数据进行补点的系统及方法。

背景技术

利用三维扫描(光学点云扫描/激光线扫描)装置扫描产品的点云数据时,由于电荷耦合器件(CCD,Charge Coupled Device)或镭射扫描时会因为检测角度或景深等问题,从而使得产品的一些被遮住的部位或深孔等地方,不容易被扫描到,并最终导致获取的点云数据出现破面、破洞等情况,降低了整体点云的质量,并影响了测量效果。

发明内容

鉴于以上内容,有必要提供一种探针补点系统及方法,可利用接触式探针对产品不容易被扫描的部位进行补点。

一种探针补点方法,应用于三维扫描装置中,所述三维扫描装置包括CCD镜头,所述探针补点方法利用接触式探针对待测产品进行补点测量,所述接触式探针上预设有多个标志点,该方法包括:根据所述标志点建立该接触式探针的三维坐标系统,并在指定测量装置对所述接触式探针进行测量后,从所述指定测量装置获取所述标志点及所述接触式探针的球心的原始三维坐标;计算所述标志点及所述接触式探针的球心在该接触式探针的三维坐标系统中的初始三维坐标;在利用所述接触式探针接触待测产品时,利用所述CCD镜头拍摄所述接触式探针的影像;计算所述影像中的接触式探针的多个标志点的二维坐标;利用所述三维扫描装置中预存的转换矩阵将所述标志点的二维坐标转换为三维坐标;根据对所述标志点转换后的三维坐标及所述标志点在所述接触式探针的三维坐标系统中的初始三维坐标的比较,确定所述标志点的变化参数;根据所述球心在所述接触式探针的三维坐标系统中的初始三维坐标及所述标志点的变化参数,确定所述球心当前的三维坐标;及输出所述球心当前的三维坐标作为待补点的坐标。

一种探针补点系统,应用于三维扫描装置中,所述三维扫描装置包括CCD镜头,所述探针补点系统利用接触式探针对待测产品进行补点测量,所述接触式探针上预设有多个标志点,该系统包括:探针测量模块,用于根据所述标志点建立该接触式探针的三维坐标系统,并在指定测量装置对所述接触式探针进行测量后,从所述指定测量装置获取所述标志点及所述接触式探针的球心的原始三维坐标;计算模块,用于计算所述标志点及所述接触式探针的球心在该接触式探针的三维坐标系统中的初始三维坐标;影像获取模块,用于在利用所述接触式探针接触待测产品时,利用所述CCD镜头拍摄所述接触式探针的影像;所述计算模块,还用于计算所述影像中的接触式探针的多个标志点的二维坐标,利用所述三维扫描装置中预存的转换矩阵将所述标志点的二维坐标转换为三维坐标,根据对所述标志点转换后的三维坐标及所述标志点在所述接触式探针的三维坐标系统中的初始三维坐标的比较,确定所述标志点的变化参数,及根据所述球心在所述接触式探针的三维坐标系统中的初始三维坐标及所述标志点的变化参数,确定所述球心当前的三维坐标;及输出模块,用于输出所述球心当前的三维坐标作为待补点的坐标。

相较于现有技术,所述的探针补点系统及方法,可利用接触式探针对产品不容易被扫描的部位进行补点,从而确保该产品的点云数据的准确性,以提高测量准确度。

附图说明

图1是本发明探针补点系统的较佳实施方式的硬件架构图。

图2是本发明探针补点系统的较佳实施方式的接触式探针的结构示意图。

图3是本发明探针补点系统的较佳实施方式的功能模块图。

图4是本发明探针补点系统的较佳实施方式的基于所述接触式探针创建的三维坐标系。

图5是本发明探针补点方法的较佳实施方式的流程图。

主要元件符号说明

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