[发明专利]显示面板及其测试方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种面板及其测试方法，且特别是有关于一种显示面板及其测试方法。

背景技术

一般而言，显示面板是由主动组件阵列基板、对向基板以及配置于此两基板之间的显示介质层所构成。其中，在完成主动组件阵列基板的制程后通常会进行电性检测，以确保主动组件阵列在制程过程中没有产生影响显示质量的缺陷。并且，当检测出会影响显示质量的缺陷的情况下，可更进一步的找出发生缺陷的位置并进行修补，如此可提高制程的良率。

然而，当主动组件阵列基板中的数据线与共享电极发生短路情况时，由于共享电极通常以阵列方式电性相连分布于多条数据在线，因此无法从检测结果判别发生缺陷的位置以进行修补，而增加制程不良损耗的成本。因此，如何在数据线与共享电极发生短路情况下，可正确的判读出发生缺陷的位置，为亟待解决的课题。

发明内容

本发明提供一种显示面板及其测试方法，当数据线与共享电极间发生短路时，可以检测出发生短路位置所对应的扫描线坐标。

本发明的显示面板，具有显示区以及周边线路区，且显示面板包括主动组件阵列基板、对向基板以及位于主动组件阵列基板与对向基板之间的显示介质层。主动组件阵列基板包括多条扫描线以及多条数据线、多个像素单元、共享电极层以及多条测试线。扫描线以及数据线交错设置以于显示区中定义出多个像素区域。多个像素单元分别设置于像素区域中，各像素单元与对应的扫描线以及数据线电性连接。共享电极层至少覆盖数据线。测试线设置于显示区中，各测试线至少与数据线重迭，且位于共享电极层与数据线之间。

本发明的显示面板的测试方法，此方法包括提供如上所述的显示面板。输入测试信号至测试线的其中之一。从对应于其中的一条测试线的数据线接收测试结果信号，其中，当测试结果信号为致能时，判断对应于其中的一条测试线的数据线与共享电极层以及位于两者之间的测试线电性连接，进而得知对应于其中的一条测试线的数据线与共享电极层发生短路的位置。

基于上述，因本发明在共享电极层与数据线之间设置测试线。当数据线与共享电极间发生短路时，可藉由输入测试信号至测试线的其中之一，并同时从对应测试线的数据线接收测试结果信号，其中，当测试结果信号为致能时，则可判断对应测试线的数据线与共享电极层以及位于两者之间的测试线电性连接，并且藉由得知测试线的数据线与共享电极层发生短路的位置，进而判别出发生短路位置所对应的扫描线坐标。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

附图说明

图1是根据本发明的实施例的显示面板的上视示意图；

图2是图1沿着剖面线I-I’的剖面示意图；

图3是根据本发明的实施例的显示面板数据线与共享电极发生短路的上视示意图；

图4是图3沿着数据线与共享电极发生短路位置的剖面线II-II’的剖面示意图。

【主要组件符号说明】

D1：第一方向

D2：第二方向

I-I’：剖面线位置

II-II’： 发生短路的剖面线位置

U：像素区域

10：显示面板

100：主动组件阵列基板

102：显示区

110：基板

112：信号接垫

112a：第一信号接垫

112b：第二信号接垫

120a、120b、120c、120d：扫描线

130a、130b、130c、130d：数据线

140：像素单元 

140a：主动组件 

140b：像素电极

150：共享电极层

160：测试线

160a：连接部

160b：手指部

160c：测试接垫

170：栅绝缘层

180：第一绝缘层

190：第二绝缘层

200：对向基板

300：显示介质层。

具体实施方式

图1是根据本发明的实施例的显示面板的上视示意图。图2是图1沿着剖面线I-I’的剖面示意图。请同时参照图1及图2，在本实施例中，显示面板10具有显示区102以及周边线路区104，并且包括主动组件阵列基板100、对向基板200以及位于主动组件阵列基板100与对向基板200之间的显示介质层300。