[发明专利]软质低浓度铜合金绝缘捻线及线圈无效
申请号: | 201310559810.6 | 申请日: | 2013-11-12 |
公开(公告)号: | CN103943164A | 公开(公告)日: | 2014-07-23 |
发明(设计)人: | 藤户启辅;青山正义;鹫见亨;佐川英之 | 申请(专利权)人: | 日立金属株式会社 |
主分类号: | H01B1/02 | 分类号: | H01B1/02;H01B9/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶;於毓桢 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 软质低 浓度 铜合金 绝缘 捻线 线圈 | ||
1.一种软质低浓度铜合金绝缘捻线,其特征在于,为捻合多根在导体上形成有绝缘被覆层的绝缘线而形成的绝缘捻线,所述导体由软质低浓度铜合金线形成,所述软质低浓度铜合金线由包含从Ti、Mg、Zr、Nb、Ca、V、Ni、Mn以及Cr所组成的组中选择的添加元素,其余部分为铜的软质低浓度铜合金材料构成,从该软质低浓度铜合金线的表面向内部直到至少线径的20%深度的平均晶粒大小为20μm以下。
2.根据权利要求1所述的软质低浓度铜合金绝缘捻线,其特征在于,所述软质低浓度铜合金材料含有超过2质量ppm量的氧,含有2质量ppm以上12质量ppm以下的硫。
3.根据权利要求1或2所述的软质低浓度铜合金绝缘捻线,其特征在于,所述软质低浓度铜合金材料的抗拉强度为210MPa以上、伸长率为15%以上以及维氏硬度为65Hv以下。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的软质低浓度铜合金绝缘捻线,其特征在于,所述软质低浓度铜合金材料的电导率为98%IACS以上。
5.根据权利要求1~4中任一项所述的软质低浓度铜合金绝缘捻线,其特征在于,所述软质低浓度铜合金材料包含4质量ppm~55质量ppm的Ti的所述添加元素和超过2质量ppm且30质量ppm以下的氧。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的软质低浓度铜合金绝缘捻线,其特征在于,捻合了多根形成有绝缘被覆层的所述软质低浓度铜合金线,在其外周部进一步形成绝缘被覆层。
7.一种线圈,其特征在于,使用权利要求1~6中任一项所述的软质低浓度铜合金绝缘捻线而形成线圈状。
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