[发明专利]一种LED器件光电热集成的测试系统及方法

权利要求书

1.一种LED器件光电热集成的测试系统，该系统包括：计算机(010)、ARM控制电路(020)、光学测试系统(030)、瞬态热学测试系统(040)以及恒温槽(050)，计算机(010)通过信号线(070)分别与ARM控制电路(020)、瞬态热学测试系统(040)连接，ARM控制电路(020)通过信号线(070)分别与瞬态热学测试系统(040)、光学测试系统(030)连接，恒温槽(050)通过信号线(070)分别与光学测试系统(030)、瞬态热学测试系统(040)连接，其特征在于：

上述的计算机(010)，分别用于对所接收或发送来自ARM控制电路(020)和瞬态热学测试系统(040)的数据，进行数据处理，获得恒温槽(050)中待测LED器件(051)的耗散功率，再进行温度冷却曲线测试，通过计算机(010)中软件算法编译获得瞬态热阻值；

上述ARM控制电路(020)，分别用于接收或发送来自计算机(010)、光学测试系统(030)、瞬态热学测试系统(040)的控制信号和测试数据信号；

上述光学测试系统(030)，用于测试恒温槽(050)中的待测LED器件(051)光功率参数，将接收的光功率参数发送到ARM控制电路(020)；

上述的瞬态热学测试系统(040)，通过信号线(070)分别与计算机(010)、ARM控制电路(020)及恒温槽(050)相连，用于分别接收或发送所测电压信号，实现待测LED器件(051)数据采集； 

上述的恒温槽(050)，用于测量待测LED器件(051)。

2.根据权利要求1所述的一种LED器件光电热集成的测试系统，其特征在于：上述光学测试系统(030)，包括积分球模块(031)、快速光谱仪模块(032)，积分球模块(031)用于测试恒温槽(050)中的待测LED器件(051)发射的光功率参数，将接收的光功率参数发送到快速光谱仪模块(032)，快速光谱仪模块(032)用于接收和分析积分球模块(031)发送来恒温槽(050)中的测试待测LED器件(051)的光功率参数，将分析后得到的光功率参数发送至ARM控制电路(020)。

3.根据权利要求2所述的一种LED器件光电热集成的测试系统，其特征在于：上述瞬态热学测试系统(040)，包括恒流源控制模块(041)、温度测量模块(042)、数据采集模块(043)和加热及温控模块(044)；

恒流源控制模块(041)用于接收ARM控制电路(020)发出的电流控制信号，向恒温槽(050)中的待测LED器件(051)提供工作及加热电流；

温度测量模块(042)用于测试恒温槽(050)中的待测LED器件(051)的管脚温度参数，将管脚的管脚温度参数发送至ARM控制电路(020)；

数据采集模块(043)用于采集待测LED器件(051)的电压参数，将采集的待测LED器件(051)的电压参数发送到计算机(010)；

加热及温控模块(044)用于接收ARM控制电路(020)发出的控制恒温槽(050)的加热温度参数，对恒温槽(050)进行加热。

4. 一种LED器件光电热集成的测试方法，用于根据权利要求1所述的一种LED器件光电热集成的测试系统进行测试，其特征在于：包括以下测试步骤：

根据用户指令测试K因子(S1)，测试过程中待测LED器件(051)的工作电流由瞬态热学测试系统(040)的恒流源控制模块(041)提供，待测LED器件(051)的管脚温度参数由温度测量模块(042)测试(S2)；

根据K因子测试温度冷却曲线，同时进行光功率参数的测试，其中测试过程中的加热电流由瞬态热学测试系统(040)的恒流源控制模块(041)提供，数据采集模块(043)对待测LED器件(051)进行电压参数采集，通过K因子计算公式得到待测LED器件(051)的温度冷却曲线；待测LED器件(051)的光功率参数由光学测试系统(030)测试(S2)；

根据待测LED器件(051)的光功率参数，对电功率参数进行修正，得到耗散功率(S3)；

根据耗散功率和温度冷却曲线，进行数据处理，得到LED器件(051)的瞬态热阻，其中数据处理是由计算机(010)中的软件算法编译对接收的来自ARM控制电路(020)和瞬态热学测试系统(040)的数据，进行的数据处理，实现待测LED器件(051)瞬态热阻的精确测试(S4)。