[发明专利]一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法

权利要求书

1.一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法，其特征在于包括以下步骤：

步骤A：进行有机玻璃试件银纹最大深度测量试验的准备工作；

步骤B：调整有机玻璃试件使其处于测定银纹深度的最佳位置；

步骤C：利用工具显微镜测量有机玻璃试件银纹最大深度；

步骤D：记录有机玻璃试件银纹最大深度的测量结果，以作为银纹对有机玻璃力学性能影响研究的数据。

2.根据权利要求1所述的一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法，其特征在于：所述步骤A中进行有机玻璃银纹最大深度测量的准备工作实现过程为：

（A1）检查工具显微镜测量系统的仪器设备，包括工具显微镜工作台；

（A2）打开工具显微镜测量系统，包括二维坐标测量软件及底部照明灯，并将底部照明灯调节到适当亮度；

（A3）选择合适放大倍数的物镜。

3.根据权利要求1所述的一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法，其特征在于：所述步骤B中调整有机玻璃试件使其处于测定银纹深度的最佳位置实现过程为：

（B1）将有机玻璃试件安置在载物台上，待测平面朝向物镜，银纹深度方向与物镜轴线方向垂直；

（B2）调整有机玻璃试件位置，使银纹深度方向垂直于工具显微镜的X向或Y向。

4.根据权利要求1所述的一种基于光学成像的有机玻璃银纹最大深度测量方法，其特征在于：所述步骤C中利用工具显微镜测量有机玻璃试件银纹最大深度实现过程为：

（C1）调整物镜到有机玻璃试件上表面的距离，使银纹在电脑上所成的像清晰；

（C2）根据亮度的差异，视野中较为明亮的带状区域为银纹区域，进而判别银纹沿深度方向的两个边界；

（C3）移动载物台，使电脑屏幕上的十字叉丝与银纹成像的一个边界重合，记录该点坐标，接着再移动载物台，使十字叉丝与银纹成像的另一个边界重合，记录第二点坐标；

（C4）利用工具显微镜的两点计算间距功能，输出两点间的距离，即银纹最大深度测量值；

（C5）按上面的步骤测量三次，取其平均值作为有机玻璃银纹最大深度值。