[发明专利]一种AMT系统温度循环试验方法

权利要求书

1.一种AMT系统温度循环试验方法，其特征在于：将试验样品放入温度为试验室温度的试验箱中，然后给试验样品通电或加电负载，检查试验样品以确定其功能是否符合相关规范的要求，试验样品应按照相关规范规定的工作循环和负载条件(如可行时)处于运行状态，然后将温度调节到-20±2℃保温1小时后，按下图1曲线进行30个周期循环，一个周期为8小时，其中5小时通电，3小时不通电，产品在通电时分别在各种模式状态下工作，试验结束后置室温下2小时后再对该产品进行性能和功能的检测，并进行记录；试验箱内产品空气温度变化速率不小于1℃，元器件空气温度变化率不小于3℃；

 所述试验条件为：

a) 环境温度25±5℃；

b) 交流电源电压220±2V50Hz；

c) 交流电源电压380±2V50Hz；

d) 标准大气压当地工作大气压。

2.如权利要求1所述的一种AMT系统温度循环试验方法，其特征在于：所述试验条件具体为：

a) 环境温度25℃；

b) 交流电源电压220V50Hz；

c) 交流电源电压380V50Hz；

d) 标准大气压当地工作大气压。

3.如权利要求1所述的一种AMT系统温度循环试验方法，其特征在于：

所述试验设备要求为：

    所述试验箱型号为：GDW/LX-010L，其性能指标如下：

a) 温度范围：-40℃~+150℃；

b) 温度波动度：±0.5℃；

c) 温度均匀度：±2℃；

d) 降温速率：0.7℃~1℃；

e) 升温速率：2℃~3℃；

f) 噪音：Db＜65；

g) 电源：AC380V/50Hz；

h) 工作尺寸：1000×1000×1000。