[发明专利]X射线成像设备和控制所述设备的方法

说明书

本申请要求于2012年12月28日在韩国知识产权局提交的第10-2012-0156718号韩国专利申请的利益，该申请的公开通过引用包含于此。

技术领域

本发明的实施例涉及一种X射线成像设备和控制所述设备的方法，所述设备使多能带X射线穿过目标对象以产生X射线图像。

背景技术

X射线成像设备将X射线放射到目标对象，分析穿过了目标对象的X射线以检查对象的内部结构。X射线透过性可根据组成目标对象的组织而不同。因此，检测穿过了目标对象的X射线的强度以形成目标对象的内部结构的图像。

具体地说，X射线产生器产生X射线并将X射线放射到目标对象。然后，X射线检测器检测穿过了目标对象的X射线，将检测到的X射线转换为电信号，并将电信号发送到控制器。

控制器使用从X射线检测器发送的电信号产生目标对象的X射线图像，因此X射线图像的图像质量、分辨率、精度等可根据X射线检测器的响应特性而不同。

发明内容

因此，本发明的一方面在于提供一种X射线成像设备和控制所述设备的方法，所述设备和方法估计X射线检测器的能量响应特性并基于估计的响应特性校正X射线数据的失真。

将在下面的描述中部分阐述本发明的附加方面，并且本发明的附加方面将从描述中部分是清楚的，或可以通过本发明的实践来学习。

根据本发明的一方面，一种X射线成像设备，包括：X射线产生器，产生和发射X射线；X射线检测器，检测发射的X射线并获得X射线数据；控制器，将通过X射线检测器检测X射线获得的测量数据和通过仿真获得的参考数据转换为作为预定空间上的坐标的X射线特性坐标，并从参考数据和测量数据之间的关系估计X射线检测器的响应特性函数，其中，所述测量数据和参考数据被转换为X射线特性坐标。

根据本发明的另一方面，一种控制X射线成像设备的方法，所述方法包括：在相同的响应特性参数条件下获得测量数据和参考数据；将测量数据和参考数据中的每一个转换为作为预定空间上的坐标的X射线特性坐标；从测量数据和参考数据之间的关系估计X射线检测器的响应特性函数，其中，所述测量数据和参考数据被转换为X射线特性坐标。

获得测量数据和参考数据的操作可包括：将响应特性参数设置为特定值并将X射线放射到X射线模型；检测穿过了X射线模型的X射线以获得X射线数据。

附图说明

从下面结合附图对实施例的描述，本发明的这些和/或其他方面将变得清楚并更易于理解，其中：

图1是X射线成像设备的控制框图；

图2是用于乳房X射线照相术的X射线成像设备的整体外观的示图；

图3A是根据本发明实施例的X射线成像设备的X射线检测器的结构的示意图；

图3B是根据本发明实施例的X射线成像设备的X射线检测器的单个像素区域的示意电路图；

图4A是示出根据本发明实施例的由X射线产生器放射的X射线的能谱的曲线图；

图4B是示出根据本发明实施例的在图4A的X射线检测器根据能带划分X射线的情况下的理想光谱的曲线图；

图5是示出电荷共享现象的示意图；

图6A是示出针对X射线的全部能带的失真光谱的曲线图；

图6B是示出当根据能带划分X射线时获得的失真光谱的曲线图；

图7是详细示出根据本发明实施例的X射线成像设备的控制器的控制框图；

图8A示出当没有发生失真时的转换为坐标的X射线数据的曲线图；

图8B示出当发生失真时的转换为坐标的X射线数据的曲线图；

图9是示出由响应特性估计单元估计的函数和由坐标校正单元使用的函数之间的关系的示意图；

图10是更详细地示出X射线成像设备的控制框图；

图11是示出根据组成人体的材料的X射线衰减系数的变化的示意曲线图；

图12是在控制根据本发明实施例的X射线成像设备的方法中的估计X射线检测器的响应特性的方法的流程图；

图13是在控制根据本发明实施例的X射线成像设备的方法中的使用估计的响应特性函数校正X射线数据的方法的流程图。

具体实施方式

以下，将参照关于本发明实施例的附图详细描述X射线成像设备和控制所述设备的方法。

图1是X射线成像设备100的控制框图，图2是用于乳房X射线照相术的X射线成像设备的整体外观的示图。