[发明专利]一种测定取向硅钢取向度的方法有效
| 申请号： | 201310576260.9 | 申请日： | 2013-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN103558239A | 公开（公告）日： | 2014-02-05 |
| 发明（设计）人： | 李长一;石文敏;郭小龙;方泽民;黎世德;毛炯辉;杨佳欣 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁（集团）公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 王和平;陈懿 |
| 地址： | 430080 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测定 取向 硅钢 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种测定取向硅钢取向度的方法，其特征在于：包括如下步骤：
步骤一、将钢板切成多个长方形窄条（1），将多个长方形窄条（1）叠摞成组合试样（2），所述组合试样（2）的待测面（2.1）由长方形窄条垂直于轧向的截面组成；
步骤二、通过X-射线衍射仪测量待测面（2.1）晶粒的<uvw>的晶轴密度；
步骤三、将测得的待测面（2.1）晶粒的<uvw>的晶轴密度带入下述公式计算出组合试样（2）的取向度：G=P001/∑Puvw，其中，G是组合试样（2）的取向度，P001和PUVW分别是测得的<001>晶粒和其它<uvw>晶粒的晶轴密度。
2.根据权利要求1所述的测定取向硅钢取向度的方法，其特征在于：所述步骤二中，X-射线衍射仪通过织构分析反极图法测量待测面（2.1）晶粒的<uvw>的晶轴密度。
3.根据权利要求1或2所述的测定取向硅钢取向度的方法，其特征在于：所述步骤一中，所述组合试样（2）由30个长方形窄条（1）叠摞而成。
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