[发明专利]一种离子束磁控溅射复合镀膜的装置有效

专利信息
申请号: 201310576275.5 申请日: 2012-04-01
公开(公告)号: CN103774104A 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: 周灵平;朱家俊;彭坤;李德意;杨武霖;李绍禄 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/46
代理公司: 长沙正奇专利事务所有限责任公司 43113 代理人: 马强
地址: 410082 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 离子束 磁控溅射 复合 镀膜 装置
【权利要求书】:

1.一种离子束磁控溅射复合镀膜的装置,其特征是,具体为一个真空室(1),真空室顶部设置有通向真空室内的中能注入离子源(2),真空室左右两个侧壁上各设置有一个通向真空室内的溅射离子源(7),真空室后壁上方设置有一个通向真空室内的低能辅助离子源(3),真空室后壁下方设置有两个与分子泵连通的抽气管(10);真空室内设置有样品台(8),样品台(8)通过转轴(9)与真空室的底部连接;样品台(8)上方设有两个左右对称布置的磁控溅射靶头(5),磁控溅射靶头(5)通过磁控溅射支架(4)与真空室的顶部连接;磁控溅射靶头(5)上方设有两个左右对称布置的离子束转靶(6)。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征是,所述样品台(8)的圆周上均匀分布有六个小样品台,离子束镀膜工位(B)和磁控溅射镀膜工位(A、A1、A2)位于样品台的圆周上,通过样品台公转可将样品台上某个小样品台与镀膜工位(A、A1、A2或B)相重合。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征是,离子束镀膜工位(B)为实施单靶或双靶离子束溅射沉积、离子束辅助沉积、或者离子束直接沉积的镀膜工位。

4.根据权利要求1所述的装置,其特征是,磁控溅射镀膜工位(A)为实施双靶磁控溅射聚焦共沉积的镀膜工位。

5.根据权利要求1所述的装置,其特征是,磁控溅射镀膜工位(A1)或(A2)为实施单靶磁控垂直溅射沉积的镀膜工位。

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