[发明专利]一种交流大电流冲击测试装置和测试方法有效

专利信息
申请号: 201310576717.6 申请日: 2013-11-16
公开(公告)号: CN103630775A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 张志丰;孙强;刘大千;邱清泉;肖立业;戴少涛;张国民 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 关玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 交流 电流 冲击 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种交流大电流冲击测试装置,其特征是所述的测试装置包括交流电源(Uac)、超导磁体电源(Udc)、调压变压器(Tr1)、变压器(Tr2)、断路器(SW1)、第一单刀双掷开关(S1)、第二单刀双掷开关(S2)、第一电流传感器(A1)、第二电流传感器(A2)、电压传感器(V1)、第一晶闸管组(G1)、第二晶闸管组(G2)和电阻(R);交流电源(Uac)连接在调压变压器(Tr1)的原边线圈(L11)上,调压变压器(Tr1)的副边线圈(L12)与断路器(SW1)串联后连接在变压器(Tr2)的原边线圈(L21)上,变压器(Tr2)的副边线圈(L22)的第一连接点(a)与第二晶闸管组(G2)和第一电流传感器(A1)串联电路的一端相连,第二晶闸管组(G2)和第一电流传感器(A1)串联电路的另一端连接在第一单刀双掷开关(S1)的第二连接点(11);变压器(Tr2)的副边线圈(L22)的第二连接点(b)与电阻(R)和第一晶闸管组(G1)的并联电路的一端相连,电阻(R)和第一晶闸管组(G1)的并联电路的另一端连接在第二单刀双掷开关(S2)的第二连接点(21);第一单刀双掷开关(S1)的第一连接点(10)与第一测试点(P1)相连,第二单刀双掷开关(S2)的第一连接点(20)与第二测试点(P2)相连,电压传感器(V1)并联在第一测试点(P1)和第二测试点(P2)之间,第二电流传感器(A2)和超导磁体电源(Udc)的串联电路连接在第一单刀双掷开关(S1)的第三连接点(12)和第二单刀双掷开关(S2)的第三连接点(22)之间。

2.按照权利要求1所述的交流大电流冲击测试装置,其特征是所述的调压变压器(Tr1)为升压调压变压器,一方面,通过升压提高电压的可调范围,另一方面,通过调压,控制和调节超导带材和磁体测试所需的电流。

3.按照权利要求1所述的交流大电流冲击测试装置,其特征是所述的变压器(Tr2)为降压变压器,通过降压产生较大的输出电流。

4.按照权利要求1所述的交流大电流冲击测试装置,其特征是所述的第一单刀双掷开关(S1)和第二单刀双掷开关(S2)用于第一交流电源(Uac)和超导磁体电源(Udc)的切换,具有空载切换和带载运行能力。

5.按照权利要求1所述的交流大电流冲击测试装置,其特征是所述的第一晶闸管组(G1)和第二晶闸管组(G2)由晶闸管相互反并联组成。

6.按照权利要求1所述的交流大电流冲击测试装置,其特征是所述的超导磁体电源(Udc)为调压变流的直流电源,用于第一超导样品(SP)的临界电流测试,临界电流的判据为1μV/cm。

7.按照权利要求1所述的交流大电流冲击测试装置,其特征是所述的交流电源(Uac)为单相交流电源。

8.按照权利要求1所述的交流大电流冲击测试装置,其特征是所述的控制器通过第一模拟输入口(S01)输入线路电流信号(Iac),通过第二模拟输入口(S02)输入故障触发指令(Fault),通过第三模拟输入口(S03)输入初始相位角θ,通过第四模拟输入口(S04)输入大电流冲击时间Tf,通过第一数字输出口(S11)和第二数字输出口(S12)分别输出第一晶闸管组(G1)和第二晶闸管组(G2)的触发信号;在控制器的初始状态时,第一数字输出口(S11)输出零电平,第一晶闸管组(G1)处于关断状态,第二数字输出口(S12)输出高电平,第二晶闸管组(G2)处于导通状态,线路电流信号(Iac)首先经过滤波,然后用于过零检测,通过初始相位角θ计算触发延迟时间t0;控制器发出故障触发指令(Fault)且产生高电平,控制器开始对线路电流信号(Iac)进行过零检测,并根据线路电流信号(Iac)的正负给出对应的正负方波信号,从正负方波信号的第一个上升沿开始,给正负方波信号进行一个触发延迟时间t0的信号延迟,延迟后的信号(Sig1)通过第一数字输出口(S11)输出,控制第一晶闸管组(G1)使其导通;从延迟后的正负方波的第一上升沿开始,根据所设置一个时间为大电流冲击时间(Tf)的计时器,计时结束后,控制信号(Sig2)变为零电平,从第二数字输出口(S12)输出,关断第二晶闸管组(G2)。

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