[发明专利]用于确定两个联接轴的相对位置的装置和方法有效
申请号: | 201310581105.6 | 申请日: | 2013-11-18 |
公开(公告)号: | CN103822595B | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | G·卡努;B·格拉泽;V·科纳特彻尼;M·韦格纳 | 申请(专利权)人: | 普乐福尼克·迪特·布什股份公司 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26;G01B11/27 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司11280 | 代理人: | 王勇,王博 |
地址: | 德国伊*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 确定 两个 联接 相对 位置 装置 方法 | ||
1.一种用于确定第一轴(10)和借助联接器(14)与第一轴连接的第二轴(12)的相对位置的装置,具有用于放置在第一轴的外表面上的第一测量单元,用于放置在第二轴的外表面上的第二测量单元,以及分析单元(30),
其中所述两个测量单元至少之一具有用于产生至少一条光束(22)的部件(20)并且所述两个测量单元至少之一具有检测部件(24,25,26),以获取涉及所述光束在至少一个检测表面(24,25,26)上的照射位置的数据,
其中所述两个测量单元至少之一配置有至少一个用于获取所述轴的旋转角的传感器(28),其中该传感器是至少双轴加速计或者是陀螺仪,
其中所述分析单元被构成为在多个测量位置上由所述传感器数据确定所述轴的各自旋转角位置、角速度和角加速度,并且从由所述检测部件提供的数据确定所述光束在所述至少一个检测表面上的各自照射位置,并且由所确定的照射位置的至少一部分通过曲线匹配确定所述轴的偏离,
并且其中所述分析单元还被构成为针对每个单独的测量位置借助至少下列标准进行附属数据的质量评价:
角速度和角加速度,
所述照射位置的切向分量基于与之前的测量位置的时间距离而与之前的测量位置的照射位置的切向分量之间的差,
所述照射位置与匹配所确定的照射位置的至少一部分的曲线之间的偏差度,
以及,如果数据的质量评价小于阈值,则在确定轴偏离时从考虑中排除该测量位置的数据或赋予其较低的权重。
2.根据权利要求1的装置,其特征在于,所述至少一个传感器(28)被构成为针对每个测量位置获取振荡,其中在评价所述数据的质量时采用各自振荡强度作为另一标准,其中较高的振荡强度导致较差的评价。
3.根据权利要求1或2的装置,其特征在于,所述分析单元(30)被构成为在评价所述数据的质量时采用所述测量位置到旋转运动的参考时刻之间的时间距离作为另一标准。
4.根据权利要求3的装置,其特征在于,所述参考时刻是旋转运动的开始时刻,其中到所述旋转运动的开始时刻的较大距离导致更好的评价。
5.根据前述权利要求之一的装置,其特征在于,所述分析单元(30)被构成为在评价所述数据的质量时采用所述角加速度的时间变化作为另一标准。
6.根据权利要求5的装置,其特征在于,所述角加速度的较大时间变化导致较差的评价。
7.根据前述权利要求之一的装置,其特征在于,较高的角速度导致较差的评价。
8.根据前述权利要求之一的装置,其特征在于,较高的角加速度导致较差的评价。
9.根据前述权利要求之一的装置,其特征在于,所述照射位置的切向分量基于与之前的测量位置的时间距离而与之前的测量位置的照射位置的切向分量之间较大的差导致较差的评价。
10.根据前述权利要求之一的装置,其特征在于,在所述曲线匹配中测量位置的质量评价越差,则其采用越低的权重。
11.根据前述权利要求之一的装置,其特征在于,所述分析单元(30)被构成为在经过特定数量的测量位置之后借助单个测量位置的质量评价实施迄今经过的测量位置的数据的整体质量评价,以基于迄今经过的测量位置的进行曲线匹配,并用以提供关于已确定的整体质量的报告。
12.根据权利要求11的装置,其特征在于,根据所述确定的整体质量是否已经达到阈值,所述报告的内容为所述测量的结束或继续。
13.根据权利要求11或12的装置,其特征在于,所述分析单元(30)被构成为在确定所述整体质量时采用所述测量位置的旋转角分布和所述测量位置的数量。
14.根据权利要求11至13之一的装置,其特征在于,在确定所述整体质量时采用所述照射位置与被匹配曲线之间的平均偏差。
15.根据前述权利要求之一的装置,其特征在于,所述两个测量单元至少之一配置有两个加速计传感器。
16.根据前述权利要求之一的装置,其特征在于,所述至少一个传感器(30)是构成为MEMS传感器模块的加速计传感器。
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