[发明专利]TD-LTE-Advanced综测仪中合成本振装置

权利要求书

1.一种TD-LTE-Advanced综测仪中合成本振装置，其特征在于，所述装置包括：取样环、取样器模块、直接数字合成模块、本振发生模块、参考分配电路；其中，

所述取样环，用于为取样器提供207MHz～236MHz的取样本振信号，对输入射频频率进行取样；

所述取样器模块，为所述取样环和所述本振发生模块的中间结合模块，用于执行频率取样，频谱搬移；

所述直接数字合成模块，用于实现整个本振的频率分辨率，执行小数分频；

所述本振发生模块，选用经济型宽带VCO，覆盖5.0GHz～10.0GHz频段；其中，所述本振发生模块输出频率的指标建立在多环拟合的基础上，其100Hz～1kHz之间的相噪指标由参考晶体保证，1kHz～3kHz之间的相噪指标由所述直接数字合成模块保证，3kHz～10kHz之间的相噪指标由所述取样环保证，100kHz以远的相噪指标由VCO远端保证；

所述参考分配电路，用于通过各种分频和倍频电路，给频率合成的各个模块提供频率参考。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述本振发生模块包括：

鉴相器，用于接收取样中频和直接数字合成（DDS）电路的两路信号进行比相，利用多阶环路参数的优化拟合及带宽选择，控制宽带VCO，调试输出杂散和相噪指标性能。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

FPGA控制电路，用于执行所述装置中各个模块的逻辑控制。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述取样环包括：

取样环电路单元，用于根据锁相环的调试方法，在确保200MHz、400MHz存在的前提下，通过调试程序用FPGA对集成鉴相器进行送数控制，用射频点测电缆结合频谱仪测量取样环输出；其中，频率值应符合对应的分频比：F_VCO=200MHz+(400MHz/N)；改变分频比，在207MHz～236MHz范围内验证取样环，在整个频段范围内锁定，执行取样环调试操作。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述取样环的带宽为100～300Hz。

6.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述取样器模块包括：

取样器电路单元，用于在所述取样环的调试操作执行完成后，配合外加信号源调试取样器电路，在取样器的射频端接信号源输入，设置信号源幅度为0dBm，设置来自取样环的取样本振信号的幅度高于17dBm，用点测电缆结合频谱仪观察取样器的中频输出。

7.如权利要求1所述的装置，其特征在于，

所述本振发生模块执行主锁相环调试操作，主锁相环的输出即为所述装置的输出频率，范围5.0GHz～10.5GHz，VCO输出幅度-6dBm，耦合器后输出幅度-12dBm，放大器后输出幅度为5dBm。

8.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述参考分配电路由不同分频器和倍频器组合而成，为所述装置的各个频率合成单元提供所需的参考信号。

9.如权利要求1所述的装置，其特征在于，在扫描过程中，不改变取样振荡器的频率，频率扫描操作由所述直接数字合成模块完成；在所有的频点上，主VCO环的积分保持一致方向。