[发明专利]一种测试激光倍频晶体性质的装置和方法

权利要求书

1.一种测试激光倍频晶体性质的装置，其特征在于：它包括依次设置的激光光源、入射激光光路、载物台、二次谐波激光光路、针孔、入射光滤色片和光电倍增管；

该入射激光光路包括平行放置的第一凸透镜和第二凸透镜；

该二次谐波激光光路包括平行放置的第三凸透镜和第四凸透镜；

该激光光源位于该第一凸透镜的外侧焦点处；该针孔位于该第四凸透镜的外侧焦点处；

用于放置待测激光倍频晶体的载物台位于该第二凸透镜及该第三凸透镜的焦点重合处。

2.一种利用权利要求1所述的装置测试激光倍频晶体性质的方法，其特征在于，包括下列步骤：

根据入射激光的波长以及待测激光倍频晶体的双折射率确定入射激光和二次谐波激光的相位匹配角度；

将待测激光倍频晶体按照相位匹配角度加工成激光倍频晶体器件，并放置于所述载物台上；

开启所述激光光源，发出的激光光束经过所述入射激光光路聚焦在该激光倍频晶体器件的待测区域，该处的入射激光被倍频成为二次谐波激光并经过所述二次谐波激光光路聚焦通过所述针孔，经过所述入射光滤色片，打在所述光电倍增管上；

测定并记录打在所述光电倍增管上二次谐波光强度。

3.根据权利要求2所述的测试激光倍频晶体性质的方法，其特征在于：所述激光光源可以选择不同波长、不同功率。