[发明专利]一种W波段IMPATT二极管阻抗匹配引脚及其制备方法有效
申请号: | 201310588210.2 | 申请日: | 2013-11-21 |
公开(公告)号: | CN103594445A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 潘结斌;陈计学;展明浩;房立峰;朱小燕;吕东锋 | 申请(专利权)人: | 华东光电集成器件研究所 |
主分类号: | H01L23/49 | 分类号: | H01L23/49;H01L21/48 |
代理公司: | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 | 代理人: | 杨晋弘 |
地址: | 233042 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 波段 impatt 二极管 阻抗匹配 引脚 及其 制备 方法 | ||
1.一种W波段IMPATT二极管阻抗匹配引脚,其特征在于,所述引脚由四个相同大小的梯形金属片相互连接成十字形,每个梯形金属片的上底边向内、下底边向外;所述引脚还包含设于十字中心连接梯形金属片的连接片(5);所述连接片(5)与四个梯形金属片为一体化结构;所述连接片(5)的底面与W波段IMPATT二极管(10)的管芯(7)固定连接,所述四个梯形金属片的下底边与W波段IMPATT二极管(10)的红宝石介质环(8)固定连接。
2.根据权利要求1所述一种W波段IMPATT二极管阻抗匹配引脚的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:
a)将衬底基片通过硫酸与过氧化氢的混合溶液进行清洗,硫酸与过氧化氢的体积比为3:1,然后采用氢氟酸与水的混合试剂对清洗后的衬底基片去除氧化层,氢氟酸与水的体积比为1:5;之后将去除氧化层的衬底基片用等离子水进行冲洗,去除氢氟酸;
b)将衬底基片置于真空电子束蒸发装置中,采用450℃,在衬底基片表面连续电子束蒸发Cr-Cu-Cr金属层;
c)采用正性光刻胶,使用旋转涂胶法对衬底基片表面均匀涂胶,胶厚1.0±0.1μm;将涂好光刻胶的衬底基片放入充氮烘箱中,在90±5℃的温度下烘烤30±2min;之后用十字形光刻掩膜版将衬底基片在光刻机上进行图形套准曝光;使用显影液对曝光后的衬底基片进行显影,然后用等离子水对显影后的衬底基片进行冲洗,去除显影液;之后将冲洗过的衬底基片放入充氮烘箱中,在120±5℃的温度下烘烤30±2min;
d)采用金属湿法化学腐蚀工艺对衬底基片表面的曝光区进行腐蚀处理,得到W波段IMPATT二极管(10)的阻抗匹配引脚(6)的十字形区域;
e)采用微电镀工艺在衬底基片表面形成的十字形区域上电镀形成10~12μm厚的金属层;
f)将金属层从衬底基片上剥离,得到呈十字形的W波段IMPATT二极管(10)的阻抗匹配引脚(6);
g)将阻抗匹配引脚(6)置于温度为400±10℃的氢气退火炉进行退火处理。
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