[发明专利]磁场抗扰度试验的非标准方形线圈及校准方法和校准系统无效

专利信息
申请号: 201310590736.4 申请日: 2013-11-19
公开(公告)号: CN103630862A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 刘易勇;冯建强;吴玲;姜楠 申请(专利权)人: 中国西电电气股份有限公司;西安高压电器研究院有限责任公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R31/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 徐文权
地址: 710075 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 磁场 抗扰度 试验 非标准 方形 线圈 校准 方法 系统
【权利要求书】:

1.磁场抗扰度试验的非标准方形线圈的校准系统,其特征在于,包括磁场产生回路,以及电流监测回路和/或磁场检测回路;所述的磁场产生回路包括电流发生器(4),以及用于串接电流发生器(4)与非标准方形线圈(2)的连接线(6);所述的电流监测回路包括设置在电流发生器(4)输出侧输出端连接线(6)上的电流探头(5),以及输入端与电流探头(5)输出端连接的示波器(7);所述的磁场检测回路包括设置在非标准方形线圈(2)形成的磁场区域内的磁场探头(8),以及输入端与磁场探头(8)输出端连接的磁场接收装置(9)。

2.根据权利要求1所述的磁场抗扰度试验的非标准方形线圈的校准系统,其特征在于,还包括计算机(1)以及设置在计算机(1)内的自动校准装置(3);计算机(1)分别通过程控总线(12)与包括电流发生器(4)以及示波器(7)和/或磁场接收装置(9)的校准器件连接。

3.根据权利要求2所述的磁场抗扰度试验的非标准方形线圈的校准系统,其特征在于,所述的自动校准装置(3)包括用于设定程序和校准参数的输入装置,用于选择校准流程的程序选配装置,用于控制校准器件的程序控制装置,用于读取校准器件原始数据的数据读取装置,用于根据程序设定将原始数据进行运算并与校准参数进行符合性对比的数据处理装置,用于将原始数据和对比结果进行输出的校准输出装置。

4.磁场抗扰度试验的非标准方形线圈的校准方法,其特征在于,基于权利要求1-3中任意一项所述的校准系统,包括如下步骤,

对非标准方形线圈的线圈因数的校准步骤;选择包括磁场产生回路以及电流监测回路和磁场检测回路的校准系统,由磁场产生回路向非标准方形线圈馈入电流并产生磁场,由电流监测回路中的示波器(7)得到非标准方形线圈上的电流I,由磁场检测回路中的磁场接收装置(9)得到非标准方形线圈内的磁场强度H,根据公式CF=H/I得到非标准方形线圈的线圈因数CF;

对非标准方形线圈的磁场均匀域的校准步骤;

对非标准方形线圈的最大馈入电流的校准步骤。

5.根据权利要求4所述的磁场抗扰度试验的非标准方形线圈的校准方法,其特征在于,所述的对非标准方形线圈的线圈因数的校准步骤,由磁场产生回路中的电流发生器(4)输入工频电流,在多个磁场强度等级下分别进行校准,每个磁场强度等级下取多个校准值,取平均值得到线圈因数的校准值。

6.根据权利要求5所述的磁场抗扰度试验的非标准方形线圈的校准方法,其特征在于,所述的磁场强度等级包括10A/m、30A/m、100A/m、300A/m和1000A/m五个等级,每个磁场强度等级下校准至少10个校准值。

7.根据权利要求5或6所述的磁场抗扰度试验的非标准方形线圈的校准方法,其特征在于,所述的对非标准方形线圈(2)的磁场均匀域的校准步骤包括,在非标准方形线圈(2)分别馈入不同磁场强度等级下的电流,以非标准方形线圈(2)平面几何中心为参考点,确定非标准方形线圈(2)内磁场强度不超过±3d的磁场区域,选取磁场区域内的校准点,每个校准点多次校准后取平均值做为该点的磁场强度,通过校准点磁场强度之间对比得到磁场均匀域的校准值。

8.根据权利要求7所述的磁场抗扰度试验的非标准方形线圈的校准方法,其特征在于,所述的校准点包括非标准方形线圈(2)平面几何中心点(11),以及至少12个非标准方形线圈磁场均匀域内的校准点,每个校准点校准至少10个值。

9.根据权利要求4所述的磁场抗扰度试验的非标准方形线圈的校准方法,其特征在于,所述的对非标准方形线圈(2)的最大馈入电流的校准步骤包括,校准产生1000A/m工频磁场时的工频电流有效值,和/或校准产生1000A/m脉冲磁场时的脉冲电流值。

10.磁场抗扰度试验的非标准方形线圈,其特征在于,采用铜芯线缆,边长为3米,匝数为3匝,由权利要求4-9中任意一项所述的校准方法校准合格。

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